机构

• 计算技术研究所 [5]
• 沈阳自动化研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [6]

内容类型

• 期刊论文 [6]

发表日期

• 2010 [1]
• 2007 [1]
• 2005 [1]
• 2003 [1]
• 2002 [2]

学科主题

筛选

浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 龙芯3号多核处理器的低功耗测试技术 期刊论文  OAI收割 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2021 作者:  齐子初;  刘慧;  石小兵;  韩银和   |  收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2023/12/04 低功耗测试  微处理器测试  多核微处理器测试  基于IP的测试   低功耗扫描测试的分析与建模 期刊论文  OAI收割 仪器仪表学报, 2007, 卷号: 28, 期号: S, 页码: 50-53 作者:  闫永志;  杨松;  王宏;  杨志家   |  收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2010/11/29 低功耗扫描测试  扫描触发器  峰值功耗  测试技术   应用向量划分的低功耗确定性BIST方法 期刊论文  OAI收割 计算机辅助设计与图形学学报, 2005, 卷号: 17, 期号: 12 作者:  韩银和;  李吉;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2010/11/23 确定性bist  Lfsr重播种  低功耗  测试向量划分   一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36 作者:     |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2023/12/04 BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路   可测试性设计中的功耗优化技术 期刊论文  OAI收割 贵州工业大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1 作者:  李文;  周旭;  范东睿;  蒋敬旗   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 可测试性设计  功耗优化  低功耗  测试  超大规模集成电路  芯片设计   系统芯片中低功耗测试的几种方法 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20 作者:  蒋敬旗;  周旭;  李文;  范东睿   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 系统芯片  低功耗  集成电路测试  可测试性设计