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机构
计算技术研究所 [4]
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采集方式
OAI收割 [8]
内容类型
期刊论文 [8]
发表日期
2009 [1]
2007 [2]
2006 [1]
2005 [2]
2003 [1]
2002 [1]
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利用内容可寻址技术的存储器BISR方法
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2009, 卷号: 21, 期号: 4
作者:
王达
;
谢远江
;
胡瑜
;
李晓维
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提交时间:2010/11/08
内建自测试
内建自诊断
内建冗余分析
内建tt修复
内容可寻址存储器
基于BIST测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA
期刊论文
OAI收割
仪器仪表学报, 2007, 卷号: 28, 期号: S, 页码: 837-840
作者:
杨志家
;
王宏
;
刘肄倬
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提交时间:2010/11/29
Virtex-ⅱ
Fpga
Bist测试
互连技术
可测性设计
内建自测试
一种新型内建自测试重播种技术
期刊论文
OAI收割
小型微型计算机系统, 2007, 卷号: 28, 期号: 10, 页码: 1888-1890
作者:
杨松
;
王宏
;
闫永志
;
杨志家
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提交时间:2010/11/29
测试数据压缩
内建自测试
重播种
Lfsr
一种低功耗BIST测试方法
期刊论文
OAI收割
微计算机信息, 2006, 卷号: 22, 期号: 8, 页码: 111-113
作者:
王宏
;
汪滢
;
李金凤
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提交时间:2010/11/29
寄存器传输级
内建自测试
故障模型
随机抵抗性故障
嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究
期刊论文
OAI收割
电子器件, 2005, 卷号: 28, 期号: 4, 页码: 4,893-896
作者:
吴斌
;
王晓琴
;
黑勇
;
乔树山
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提交时间:2010/05/26
嵌入式存储器
存储器内建自测试
存储器内建自诊断
应用于逻辑核的BIST关键技术研究
期刊论文
OAI收割
计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55
作者:
李吉
;
徐勇军
;
韩银和
;
李晓维
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提交时间:2023/12/04
可测性设计
逻辑内建自测试
测试点插入
一种低功耗BIST测试产生器方案
期刊论文
OAI收割
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:
何蓉晖
;
李晓维
;
宫云战
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提交时间:2023/12/04
BIST
低功耗设计
内建自测试
测试产生器
线性反馈移位寄存器
集成电路
一款通用CPU的存储器内建自测试设计
期刊论文
OAI收割
同济大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204
作者:
何蓉晖
;
李华伟
;
李晓维
;
宫云战
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提交时间:2023/12/04
CPU
存储器内建自测试
故障模型
march算法
可测性设计
超大规模集成电路
IP核