机构

• 新疆理化技术研究所 [3]
• 上海微系统与信息技术... [2]

采集方式

• OAI收割 [5]

内容类型

• 学位论文 [3]
• 期刊论文 [2]

发表日期

• 2020 [1]
• 2018 [2]
• 2011 [1]
• 2005 [1]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 空间辐射环境下 SiC MOSFET 的栅氧可靠性研究 学位论文  OAI收割 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020 作者:  梁晓雯   |  收藏  |  浏览/下载：55/0  |  提交时间：2020/11/19 SiC MOSFET  栅氧可靠性  总剂量效应  单粒子效应  潜损伤  安全工作区   质子辐照对130nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响 期刊论文  OAI收割 现代应用物理, 2018, 卷号: 8, 期号: 4 作者:  马腾;  崔江维;  郑齐文;  魏莹;  赵京昊   |  收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2018/07/20 辐射诱导泄漏电流  栅氧经时击穿  可靠性  质子辐照  部分耗尽soi   γ射线辐照对130 nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响 期刊论文  OAI收割 红外与激光工程, 2018, 卷号: 47, 期号: 9, 页码: 214-219 作者:  马腾;  苏丹丹;  周航;  郑齐文;  崔江维   |  收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2018/10/18 场效应晶体管  可靠性  栅氧经时击穿  Γ射线   镍氢电池的内压特性及其管理系统硬件设计 学位论文  OAI收割 硕士: 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所）  , 2011 毛王君 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2012/03/06 超薄栅氧层  可靠性  界面态  导电机制  击穿机制     Electrical Characteristics and Reliability of MOSFET Capacitors with Ultra-thin Oxides 学位论文  OAI收割 博士: 中国科学院研究生院（上海微系统与信息技术研究所）  , 2005 YANJU YU   收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2012/03/06 超薄栅氧层  可靠性  界面态  导电机制  击穿机制