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	SiO2光学薄膜的吸收边特性期刊论文 OAI收割光电工程, 2019, 卷号: 46, 期号: 4, 页码: 11-17 作者: 孔明东[1,2]; 李斌成[3]; 郭春[1]; 柳存定[1]; 何文彦[1] \| 收藏 \| 浏览/下载：37/0 \| 提交时间：2021/05/06 SIO2薄膜带隙宽度带尾能量氧空位缺陷
	发动机油底壳涂胶控制与在线质量检测系统的研究学位论文 OAI收割工学硕士, 北京: 中国科学院大学, 2016 作者: 严长国收藏 \| 浏览/下载：77/0 \| 提交时间：2016/06/20 缺陷定位宽度测量运动规划视觉检测机器人自动涂胶
	北京脉冲低能正电子束流装置研究期刊论文 OAI收割中国原子能科学研究院年报, 2007, 期号: 0, 页码: 234 作者: 马雁云; 王宝义; 于润升收藏 \| 浏览/下载：30/0 \| 提交时间：2015/12/25 低能正电子束:6451 慢正电子束流:4461 聚束器:2848 脉冲宽度:2587 材料表面:2342 不同深度:2306 研究缺陷:1965 斩波器:1801 装置:1741 连续可调:1648
	KH2PO4中电子或空穴辅助下的氢缺陷反应期刊论文 OAI收割物理, 2004, 卷号: 033 作者: 刘长松; Kioussis Nicholas \| 收藏 \| 浏览/下载：25/0 \| 提交时间：2020/11/23 氢缺陷磷酸二氢钾非线性光学 KDP 缺陷反应晶体材料带隙宽度
	几何弯结与点缺陷的弹性交互作用位场期刊论文 OAI收割物理学报, 1992, 期号: 12, 页码: 1980-1986 孙宗琦收藏 \| 浏览/下载：20/0 \| 提交时间：2012/04/12 弯结:8818 弹性交互作用能:3230 位场:2316 与点:1571 螺型位错:999 位错段:974 混合位错:828 点缺陷:752 折线:669 位错宽度:564
	化合物半导体及其应用期刊论文 OAI收割功能材料, 1988, 卷号: 19, 期号: 1, 页码: 34-39 李春鸿收藏 \| 浏览/下载：97/0 \| 提交时间：2012/06/13 场效应管禁带宽度液封直拉法红色发光二极管晶体生长电子迁移率制备方法位错缺陷大规模集成电路化合物半导体材料
	空位型缺陷对正电子的局域及其与缺陷宽度的依赖特性期刊论文 OAI收割核技术, 1985, 期号: 8, 页码: 6 谌季强,汪克林,龙期威收藏 \| 浏览/下载：11/0 \| 提交时间：2012/04/12 空位型缺陷正电子捕获势阱缺陷宽度正电子波函数