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共83条,第1-10条
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Degradation in AlGaN/GaN HEMTs irradiated with swift heavy ions: Role of latent tracks
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2018, 卷号: 430, 页码: 59-63
作者:
Hu, P. P.
;
Liu, J.
;
Zhang, S. X.
;
Maaz, K.
;
Zeng, J.
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2018/10/08
GaN
HEMT
Swift heavy ion
Latent track
Electrical characteristics
C波段有源微波冷噪声源设计及其性能分析
期刊论文
OAI收割
电子学报, 2018, 卷号: 46, 期号: 11, 页码: 2797-2802
作者:
董帅
;
王振占
;
李彬
;
陆浩
;
贺秋瑞
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浏览/下载:30/0
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提交时间:2019/03/05
有源微波冷噪声源
辐射计
定标
HEMT
大尺寸硅衬底上氮化物外延生长及HEMT制备技术研究
学位论文
OAI收割
博士, 北京: 中国科学院大学, 2017
刘波亭
收藏
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浏览/下载:122/0
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提交时间:2017/06/05
GaN
Si
应变
HEMT
迁移率
HIGH LINEARITY, LOW NOISE, L-BAND CRYOGENIC AMPLIFIER FOR RADIO ASTRONOMICAL RECEIVERS
期刊论文
OAI收割
MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS, 2017, 卷号: 59, 期号: 3, 页码: 500-505
作者:
Liu, Hongfei
;
Jin, Chengjin
;
Cao, Yang
;
Gan, Hengqian
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收藏
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浏览/下载:43/0
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提交时间:2019/04/08
cryogenic HEMT transistor
low noise amplifier
high linearity
radio astronomy
HIGH LINEARITY, LOW NOISE, L-BAND CRYOGENIC AMPLIFIER FOR RADIO ASTRONOMICAL RECEIVERS
期刊论文
OAI收割
MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS, 2017, 卷号: 59, 期号: 3, 页码: 500-505
作者:
Liu, Hongfei
;
Jin, Chengjin
;
Cao, Yang
;
Gan, Hengqian
收藏
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2017/05/25
cryogenic HEMT transistor
low noise amplifier
high linearity
radio astronomy
GaN HEMT 基础问题研究
学位论文
OAI收割
博士, 北京: 中国科学院大学, 2016
何晓光
收藏
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浏览/下载:56/0
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提交时间:2016/06/02
GaN
HEMT
2DEG
MOCVD
高阻
L/C波段微波辐射计定标及有源微波冷噪声源研究
学位论文
OAI收割
博士: 中国科学院国家空间科学中心, 2016
作者:
董帅
收藏
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2016/07/15
辐射计
定标
有源微波冷噪声源
双端口微波网络噪声模型
HEMT
极化线栅
GaN-Based Metal-Insulator-Semiconductor High-Electron-Mobility Transistors Using Low-Pressure Chemical Vapor Deposition SiNx as Gate Dielectric
期刊论文
OAI收割
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015, 卷号: 36, 期号: 5, 页码: 3
作者:
Hua, MY
;
Liu, C
;
Yang, S
;
Liu, SH
;
Fu, K(付凯)
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浏览/下载:115/0
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提交时间:2015/12/31
Gallium nitride
MIS-HEMT
LPCVD
silicon nitride
gate dielectric
Normally Off AlGaN/GaN MIS-High-Electron Mobility Transistors Fabricated by Using Low Pressure Chemical Vapor Deposition Si3N4 Gate Dielectric and Standard Fluorine Ion Implantation
期刊论文
OAI收割
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015, 卷号: 36, 期号: 11, 页码: 4
作者:
Zhang, ZL(张志利)
;
Fu, K(付凯)
;
Deng, XG(邓旭光)
;
Zhang, XD(张晓东)
;
Fan, YM(范亚明)
收藏
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浏览/下载:77/0
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提交时间:2015/12/31
AlGaN/GaN high electron mobility transistor (HEMT)
standard fluorine ion implantation
normally off
A Double-Gate AlGaN/GaN HEMT With Improved Dynamic Performance
期刊论文
OAI收割
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2013, 卷号: 34, 期号: 6, 页码: 747-749
作者:
Cai, Y(蔡勇)
;
Zhao, DS(赵德胜)
;
Qin, H(秦华)
;
Zhang, BS(张宝顺)
;
Zeng, CH(曾春红)
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2013/12/30
AlGaN/GaN high electron mobility transistor (HEMT)
dynamic performance
power device