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A SiC asymmetric cell trench MOSFET with a split gate and integrated p(+)-poly Si/SiC heterojunction freewheeling diode
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS B, CHINESE PHYSICS B, 2023, 2023, 卷号: 32, 32, 期号: 5, 页码: 8, 8
作者:
Jiang, Kaizhe
;
Zhang, Xiaodong
;
Tian, Chuan
;
Zhang, Shengrong
;
Zheng, Liqiang
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2023/10/07
split gate (SG)
split gate (SG)
heterojunction freewheeling diode (HJD)
SiC asymmetric cell trench MOSFET
turn-on loss
turn-off loss
heterojunction freewheeling diode (HJD)
SiC asymmetric cell trench MOSFET
turn-on loss
turn-off loss
碳化硅功率MOSFET的工作状态对电离辐射损伤特性的影响研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2021
作者:
杨圣
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浏览/下载:90/0
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提交时间:2021/08/27
SiC功率MOSFET
电离总剂量效应
高功率
开关频率
长期可靠性
A MOSFET-based high voltage nanosecond pulse module for the gating of proximity-focused microchannel plate image-intensifier
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT, 2021, 卷号: 987
作者:
Fang, Yuman
;
Gou, Yongsheng
;
Zhang, Minrui
;
Wang, Junfeng
;
Tian, Jinshou
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2021/01/28
Image intensifier
ICCD camera
MOSFET switching
Ultrafast imaging
Nanosecond pulse generation
A Charge Density Model of Silicon-nanowire GAA MOSFET Incoroperating the Source-drian Tunneling Effect for IC Design
会议论文
OAI收割
Guilin, China, June 4-6, 2021
作者:
Cheng H(程贺)
;
Zhang C(张超)
;
Liu TF(刘铁锋)
;
Xie C(谢闯)
;
Yang ZJ(杨志家)
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2022/02/04
ballistic transport
compact model
integrated-cricuit design
sub-7 nm GAA MOSFET
the source-drain tunneling
空间辐射环境下 SiC MOSFET 的栅氧可靠性研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2020
作者:
梁晓雯
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浏览/下载:58/0
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提交时间:2020/11/19
SiC MOSFET
栅氧可靠性
总剂量效应
单粒子效应
潜损伤
安全工作区
Study of the influence of gamma irradiation on long-term reliability of SiC MOSFET
期刊论文
OAI收割
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS, 2020, 卷号: 175, 期号: 5-6, 页码: 559-566
作者:
Liang, XW (Liang, Xiaowen)[ 1,2,3 ]
;
Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1,2 ]
;
Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1,2 ]
;
Zhao, JH (Zhao, Jinghao)[ 1,2,3 ]
;
Yu, XF (Yu, Xuefeng)[ 1,2 ]
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2020/12/11
SiC MOSFET
total ionizing dose irradiation
time-dependent dielectric breakdown
Nanowire gate-all-around MOSFETs modeling: ballistic transport incorporating the source-to-drain tunneling
期刊论文
OAI收割
Japanese Journal of Applied Physics, 2020, 卷号: 59, 期号: 7, 页码: 1-9
作者:
Cheng H(程贺)
;
Liu TF(刘铁锋)
;
Zhang C(张超)
;
Liu ZF(刘志峰)
;
Yang ZJ(杨志家)
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2020/07/11
ballistic transport
cylindrical gate-allaround (GAA) MOSFET
compact model
Wentzel-Kramers-Brillouin (WKB) approximation
the source-to-drain tunneling
γ射线和电子束对SOI MOSFET栅介质可靠性影响研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2017
作者:
苏丹丹
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2017/09/26
Mosfet
Tddb
辐射效应
可靠性
Si基高迁移率InGaAs沟道MOSFET器件研究
学位论文
OAI收割
博士, 北京: 中国科学院研究生院, 2017
孔祥挺
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2017/06/05
InGaAs沟道
高迁移率
MOSFET
Ge/Si衬底
A 0.5-v novel complementary current-reused cmos lna for 2.4 ghz medical application
期刊论文
iSwitch采集
Microelectronics journal, 2016, 卷号: 55, 页码: 64-69
作者:
Dai, Ruofan
;
Zheng, Yunlong
;
He, Jun
;
Liu, Guojun
;
Kong, Weiran
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提交时间:2019/05/09
Low voltage
Lna
Modified complementary current-reused
Diode connected mosfet bias
Forward body-bias
Harmonic rejection