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发表日期

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学科主题

• 光电子学 [10]

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浏览/检索结果: 共19条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Measurement of complex terahertz dielectric properties of polymers using an improved free-space technique 期刊论文  OAI收割 MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2017, 卷号: 28, 期号: 4, 页码: 8 作者:  Chang, Tianying;  Zhang, Xiansheng;  Yang, Chuanfa;  Sun, Zhonglin;  Cui, Hong-Liang   |  收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2018/03/15 free-space method  vector network analyzer  gated-reflect-line calibration  THz time-domain spectroscopy  polymer  complex dielectric properties   A 16-term error model based on linear equations of voltage and current variables 期刊论文  iSwitch采集 Ieee transactions on microwave theory and techniques, 2006, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 1464-1469 作者:  Silvonen, K;  Zhu, NH;  Liu, Y 收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Deembedding  Error model  15 term  Four-port  Network analyzer  Parasitic  Scattering parameter  16 term   A 16-term error model based on linear equations of voltage and current variables 期刊论文  OAI收割 ieee transactions on microwave theory and techniques, 2006, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 1464-1469 Silvonen K; Zhu NH; Liu Y 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2010/04/11 calibration  deembedding  error model  15 term  four-port  network analyzer  parasitic  scattering parameter  16 term  NETWORK-ANALYZER CALIBRATION  SCATTERING-PARAMETER  LOAD IMPEDANCES  LEAKAGE ERRORS  COMPLEX SOURCE  T-PARAMETERS  S-PARAMETERS  CONVERSIONS  DEVICES  ABCD   An improved tm method for full two-port calibration of the asymmetric test fixtures 期刊论文  iSwitch采集 Microwave and optical technology letters, 2005, 卷号: 45, 期号: 5, 页码: 438-441 作者:  Zhu, NH;  Liu, C;  Pun, EYB;  Chung, PS 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Deembedding  Microwave network analyzer  Test fixtures  Scattering parameter measurement   A new method based on the construction of hypothetical symmetrical networks for fixture calibration in network analyzers 期刊论文  iSwitch采集 Acta physica sinica, 2005, 卷号: 54, 期号: 6, 页码: 2606-2610 作者:  Liu, C;  Zhang, SJ;  Xie, L;  Zhu, NH 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Test fixture  Network analyzer  Scattering parameter measurement   Calibration of microwave network analyzer 期刊论文  iSwitch采集 Science in china series e-technological sciences, 2004, 卷号: 47, 期号: 2, 页码: 141-149 作者:  Zhu, NH;  Wang, YL;  Chen, ZY 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Microwave network analyzer  Scattering parameter measurement  Test fixture   Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures 期刊论文  iSwitch采集 Ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006 作者:  Zhu, NH;  Qian, C;  Wang, YL;  Pun, EYB;  Chung, PS 收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Deembedding  Microwave network analyzer  Scattering parameter measurement  Test fixture   Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures 期刊论文  OAI收割 ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006 Zhu NH; Qian C; Wang YL; Pun EYB; Chung PS 收藏  |  浏览/下载：42/0  |  提交时间：2010/08/12 calibration  deembedding  microwave network analyzer  scattering parameter measurement  test fixture  NETWORK-ANALYZER CALIBRATION   Two-port calibration of test fixtures with different test ports 期刊论文  iSwitch采集 Microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 299-302 作者:  Zhen, YC;  You, LW;  Yu, L;  Ning, HZ 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2019/05/12 Two-port calibration  Microwave network analyzer  Scattering-parameter measurement  Phase uncertainty   Scattering-parameter measurements of laser diodes 期刊论文  iSwitch采集 Optical and quantum electronics, 2002, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 747-757 作者:  Zhu, NH;  Liu, Y 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/05/12 Microwave network analyzer  Scattering-parameter measurement  Semiconductor laser diode  Test fixture calibration