机构

• 半导体研究所 [11]

采集方式

• iSwitch采集 [7]
• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [11]

发表日期

• 2008 [4]
• 2007 [1]
• 2005 [1]
• 2004 [1]
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• 2002 [2]
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学科主题

• 光电子学 [4]

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浏览/检索结果: 共11条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 High-frequency characterization of packaging network in to-can photodiode modules 期刊论文  iSwitch采集 Microwave and optical technology letters, 2008, 卷号: 50, 期号: 5, 页码: 1219-1223 作者:  Zhu, N. H.;  Wen, J. M.;  Zhang, S. J. 收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2019/05/12 Equivalent circuits  Scattering-parameters measurement  Test fixture calibration  Photodiode  Through hole (to) packaging   High-frequency characterization of packaging network in to-can photodiode modules 期刊论文  OAI收割 microwave and optical technology letters, 2008, 卷号: 50, 期号: 5, 页码: 1219-1223 Zhu, NH; Wen, JM; Zhang, SJ 收藏  |  浏览/下载：85/1  |  提交时间：2010/03/08 equivalent circuits  scattering-parameters measurement  test fixture calibration  photodiode  through hole (TO) packaging   Choice of calibration equations in calibrating microwave test fixtures 期刊论文  iSwitch采集 International journal of electronics, 2008, 卷号: 95, 期号: 8, 页码: 859-866 作者:  Liu, Jian;  Feng, Weiwei;  Zhu, Ninghua 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/05/12 Microwave network analyser  Microwave measurement  Calibration  Test fixture   Choice of calibration equations in calibrating microwave test fixtures 期刊论文  OAI收割 international journal of electronics, 2008, 卷号: 95, 期号: 8, 页码: 859-866 Liu, J; Feng, WW; Zhu, NH 收藏  |  浏览/下载：108/0  |  提交时间：2010/03/08 microwave network analyser  microwave measurement  calibration  test fixture   Measurement of a reciprocal four-port transmission line structure using the 16-term error model 期刊论文  iSwitch采集 Microwave and optical technology letters, 2007, 卷号: 49, 期号: 7, 页码: 1511-1515 作者:  Zhang, Yun;  Silvonen, Kirnmo;  Zhu, Ning H. 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/05/12 16-term error model  Four-port  Transmission lines  Calibration  Error sensitivity  Deembedding  Scattering parameters  Test fixture   A new method based on the construction of hypothetical symmetrical networks for fixture calibration in network analyzers 期刊论文  iSwitch采集 Acta physica sinica, 2005, 卷号: 54, 期号: 6, 页码: 2606-2610 作者:  Liu, C;  Zhang, SJ;  Xie, L;  Zhu, NH 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Test fixture  Network analyzer  Scattering parameter measurement   Calibration of microwave network analyzer 期刊论文  iSwitch采集 Science in china series e-technological sciences, 2004, 卷号: 47, 期号: 2, 页码: 141-149 作者:  Zhu, NH;  Wang, YL;  Chen, ZY 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Microwave network analyzer  Scattering parameter measurement  Test fixture   Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures 期刊论文  iSwitch采集 Ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006 作者:  Zhu, NH;  Qian, C;  Wang, YL;  Pun, EYB;  Chung, PS 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Deembedding  Microwave network analyzer  Scattering parameter measurement  Test fixture   Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures 期刊论文  OAI收割 ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006 Zhu NH; Qian C; Wang YL; Pun EYB; Chung PS 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2010/08/12 calibration  deembedding  microwave network analyzer  scattering parameter measurement  test fixture  NETWORK-ANALYZER CALIBRATION   Scattering-parameter measurements of laser diodes 期刊论文  iSwitch采集 Optical and quantum electronics, 2002, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 747-757 作者:  Zhu, NH;  Liu, Y;  Pun, EYB;  Chung, PS 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2019/05/12 Microwave network analyzer  Scattering-parameter measurement  Semiconductor laser diode  Test fixture calibration