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2019 [1]
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2004 [1]
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Influence of Dislocations on the Refractive Index of AlN by Nanoscale Strain Field
期刊论文
OAI收割
Nanoscale Research Letters, 2019, 卷号: 14, 期号: 1
作者:
Li,Dabing
;
Feng,Zhe Chuan
;
Luo,Xuguang
;
Wang,Yong
;
Kai,Cuihong
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浏览/下载:133/0
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提交时间:2019/08/21
Refractive index
AlN
Threading dislocation density
Nanoscale strain field around dislocations
High-resolution X-ray diffraction analysis on HVPE-grown thick GaN layers
会议论文
OAI收割
2nd International Symposium on Growth of III Nitrides (ISGN-2), Laforet Shuzenji, JAPAN, JUL 07-09, 2008
作者:
Hu XJ (胡晓剑)
;
Xu K (徐科)
;
Yang H (杨辉)
;
Wang JF (王建峰)
;
Xu Y (徐俞)
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浏览/下载:224/38
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提交时间:2011/03/14
High-resolution X-ray diffraction (HR-XRD)
Kaganer model
Modified Kaganer model
Mosaic model
Threading dislocation density
Hydride vapor phase epitaxy (HVPE)
Strained state of the layer system depending on the SiGe layer thickness by micro-Raman mapping
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2004, 卷号: 264, 期号: 1-3, 页码: 104
Zheng, XH
;
Chen, H
;
Li, YK
;
Huang, Q
;
Zhou, JM
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提交时间:2013/09/24
MOLECULAR-BEAM EPITAXY
THREADING DISLOCATION DENSITY
BUFFER LAYER
GROWTH
FILMS
Evolution of mosaic structure in Si0.7Ge0.3 epilayers grown on Si(001) substrates
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1999, 卷号: 86, 期号: 3, 页码: 1292
Li, JH
;
Peng, CS
;
Mai, ZH
;
Zhou, JM
;
Huang, Q
;
Dai, DY
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2013/09/17
THREADING DISLOCATION DENSITY
STRAIN RELAXATION
HETEROEPITAXIAL LAYERS
MISFIT DISLOCATIONS
SURFACE-MORPHOLOGY
SUPERLATTICES
DIFFRACTION
BUFFERS
FILMS