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Annealing temperature-dependent microstructure and optical and electrical properties of solution-derived Gd-doped ZrO2 high-k gate dielectrics
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF SOL-GEL SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2017, 卷号: 83, 期号: 3, 页码: 675-682
作者:
Zhu, L.
;
He, G.
;
Sun, Z. Q.
;
Liu, M.
;
Jiang, S. S.
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2018/08/16
Gd-doped Zro2 Gate Dielectric Thin Films
Annealing Temperature
Sol-gel
Optical Properties
Electrical Properties
Phase Evolution and Photoluminescence of Eu3+-Doped ZrO2
期刊论文
OAI收割
Journal of Nanoscience and Nanotechnology, 2010, 卷号: 10, 期号: 3, 页码: 1800-1807
X. B. Chen, L. P. Li, Y. G. Su and G. S. Li
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2012/11/02
ZrO2 Nanocrystals
Hydrothermal
Luminescence
rare-earth ions
band-gap
tetragonal zro2
stabilized zirconia
optical-absorption
nanoparticles
nanocrystals
crystals
films
emission
Self-rectifying effect in gold nanocrystal-embedded zirconium oxide resistive memory
外文期刊
OAI收割
2009
作者:
Liu, M
;
Li, YT
;
Zhang, S
;
Liu, Q
;
Long, SB
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提交时间:2010/11/26
Diodes
Films
Dependence
Resistance
Density
Zro2
Sio2
Preparation of YSZ film by gravity-electrophoretic deposition and its application in SOFC
期刊论文
OAI收割
Ceramics International, 2007, 卷号: 33, 期号: 4, 页码: 631-635
L. Jia
;
Z. Lu
;
X. Q. Huang
;
Z. G. Liu
;
Z. Zhi
;
X. Q. Sha
;
G. Q. Li
;
W. H. Su
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提交时间:2012/04/13
films
ZrO2
fuel cells
gravity-electrophoretic deposition (GD-EPD)
oxide fuel-cells
electrolyte
fabrication
Influences of oxygen partial pressure on structure and related properties of ZrO2 thin films prepared by electron beam evaporation deposition
期刊论文
OAI收割
appl. surf. sci., 2007, 卷号: 254, 期号: 2, 页码: 552, 556
Shen Yanming
;
邵淑英
;
Yu Hua
;
范正修
;
贺洪波
;
邵建达
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提交时间:2009/09/22
ZrO2
thin films
electron beam evaporation
residual stress
oxygen partial pressure
Preparation and characterization of nanostructured ZrO2 thin films by glancing angle deposition
期刊论文
OAI收割
thin solid films, 2007, 卷号: 515, 页码: 3352, 3355
Wang Sumei
;
Xia Guodong
;
Fu Xiaoyong
;
贺洪波
;
邵建达
;
范正修
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浏览/下载:1549/191
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提交时间:2009/09/22
glancing angle deposition
ZrO2 films
structure
birefringence
Interfacial properties of high-k dielectric CaZrOx films deposited by pulsed laser deposition
期刊论文
OAI收割
Applied Physics Letters, 2006, 卷号: 88, 期号: 18
X. Y. Qiu
;
H. W. Liu
;
F. Fang
;
M. J. Ha
;
Z. G. Liu
;
J. M. Liu
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提交时间:2012/04/14
chemical-vapor-deposition
thermal-stability
zro2 films
gate
dielectrics
thin-films
si
diffusion
si(100)
Phase separation and interfacial reaction of high-k HfAlOx films prepared by pulsed-laser deposition in oxygen-deficient ambient
期刊论文
OAI收割
Applied Physics Letters, 2006, 卷号: 88, 期号: 7
X. Y. Qiu
;
H. W. Liu
;
F. Fang
;
M. J. Ha
;
J. M. Liu
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2012/04/14
silicate thin-films
thermal-stability
gate dielectrics
si(100)
zro2
capacitors
diffusion
kinetics
oxides
hfo2
Surface morphology and properties of zirconia thin films prepared at different deposition rates
期刊论文
OAI收割
surf. eng., 2006, 卷号: 22, 期号: 2, 页码: 157, 160
Zhang DP
;
Qi HJ
;
邵淑英
;
贺洪波
;
邵建达
;
范正修
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提交时间:2009/09/22
ZrO2 films
deposition rate
XRD
inhomogeneity
Thermal stability and dielectric properties of ultrathin CaZrOx films prepared by pulsed laser deposition
期刊论文
OAI收割
Applied Physics a-Materials Science & Processing, 2005, 卷号: 81, 期号: 7, 页码: 1431-1434
X. Y. Qiu
;
H. W. Liu
;
F. Fang
;
M. J. Ha
;
X. H. Zhou
;
J. M. Liu
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提交时间:2012/04/14
zro2 films
silicon