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纳米工艺集成电路低功耗设计关键技术研究 学位论文  OAI收割
北京: 中国科学院研究生院, 2010
作者:  孙文钦
  |  收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2010/07/14
面向集成电路可靠性挑战的多核处理器虚拟化技术 期刊论文  OAI收割
信息技术快报, 2010, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 1
作者:  李晓维;  张磊;  韩银和
  |  收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2010/03/30
龙芯1号处理器结构级功耗评估有效性分析 期刊论文  OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2007, 卷号: 19, 期号: 9
作者:  胡伟武;  冯子军;  肖俊华
  |  收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2010/11/22
一种有效的低功耗扫描测试结构——PowerCut 期刊论文  OAI收割
计算机研究与发展, 2007, 期号: 第3期, 页码: 473～478页
作者:  李晓维;  王 伟;  韩银和;  胡 瑜;  张佑生
  |  收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2010/10/13
龙芯1号处理器结构级功耗评估有效性分析 期刊论文  OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2007, 卷号: 19.0, 期号: 009, 页码: 1190
作者:  冯子军;  肖俊华;  胡伟武
  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04
组合电路功耗敏感性统计分析 期刊论文  OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2005, 卷号: 17, 期号: 1
作者:  徐勇军;  韩银和;  李华伟;  李晓维
  |  收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2010/11/24
一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文  OAI收割
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战
  |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2023/12/04
VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计 期刊论文  OAI收割
计算机工程与科学, 2003, 卷号: 25.0, 期号: 1.0, 页码: 92
作者:  沈理
  |  收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2023/12/04
可测试性设计中的功耗优化技术 期刊论文  OAI收割
贵州工业大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  李文;  周旭;  范东睿;  蒋敬旗
  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04
集成电路中冒险的检测和消除 期刊论文  OAI收割
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 014, 页码: 211
作者:  刘国华;  余潇洋;  闵应骅;  李晓维
  |  收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2023/12/04