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Characterization of defects and whole wafer uniformity of annealed undoped semi-insulating InP wafers 会议论文  OAI收割
9th international conference on defects: recognition, imaging and physics in semiconductors (drip ix), rimini, italy, sep 24-28, 2001
Zhao YW; Sun NF; Dong HW; Jiao JH; Zhao JQ; Sun TN; Lin LY
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Characterization of defects and whole wafer uniformity of annealed undoped semi-insulating InP wafers 期刊论文  OAI收割
materials science and engineering b-solid state materials for advanced technology, 2002, 卷号: 91, 期号: 0, 页码: 521-524
Zhao YW; Sun NF; Dong HW; Jiao JH; Zhao JQ; Sun TN; Lin LY
收藏  |  浏览/下载：82/19  |  提交时间：2010/08/12