机构

• 半导体研究所 [4]

采集方式

• OAI收割 [4]

内容类型

• 期刊论文 [4]

发表日期

• 2010 [4]

学科主题

• 半导体材料 [4]

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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 限定条件 学科主题：半导体材料    发表日期：2010     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序发表日期升序发表日期降序题名升序题名降序作者升序作者降序 The growth of ZnO on bcc-In2O3 buffer layers and the valence band offset determined by X-ray photoemission spectroscopy 期刊论文  OAI收割 solid state communications, 2010, 卷号: 150, 期号: 41-42, 页码: 1991-1994 Song HP (Song H. P.); Zheng GL (Zheng G. L.); Yang AL (Yang A. L.); Guo Y (Guo Y.); Wei HY (Wei H. Y.); Li CM (Li C. M.); Yang SY (Yang S. Y.); Liu XL (Liu X. L.); Zhu QS (Zhu Q. S.); Wang ZG (Wang Z. G.) 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2010/11/27 ZnO  In2O3  MOCVD  Photoelectron spectroscopies  IN2O3-ZNO FILMS  TRANSPARENT  OXIDE  SEMICONDUCTORS  INN   Gate controlled Aharonov-Bohm-type oscillations from single neutral excitons in quantum rings 期刊论文  OAI收割 physical review b, 2010, 卷号: 82, 期号: 7, 页码: art. no. 075309 Ding F (Ding F.); Akopian N (Akopian N.); Li B (Li B.); Perinetti U (Perinetti U.); Govorov A (Govorov A.); Peeters FM (Peeters F. M.); Bufon CCB (Bufon C. C. Bof); Deneke C (Deneke C.); Chen YH (Chen Y. H.); Rastelli A (Rastelli A.); Schmidt OG (Schmidt O. G.); Zwiller V (Zwiller V.) 收藏  |  浏览/下载：185/34  |  提交时间：2010/09/07 ENERGY-SPECTRA   Measurement of w-InN/h-BN Heterojunction Band Offsets by X-Ray Photoemission Spectroscopy 期刊论文  OAI收割 nanoscale research letters, 2010, 卷号: 5, 期号: 8, 页码: 1340-1343 Liu JM (Liu J. M.); Liu XL (Liu X. L.); Xu XQ (Xu X. Q.); Wang J (Wang J.); Li CM (Li C. M.); Wei HY (Wei H. Y.); Yang SY (Yang S. Y.); Zhu QS (Zhu Q. S.); Fan YM (Fan Y. M.); Zhang XW (Zhang X. W.); Wang ZG (Wang Z. G.) 收藏  |  浏览/下载：144/21  |  提交时间：2010/08/17 Valence band offset  w-InN/h-BN heterojunction  X-ray photoelectron spectroscopy  Conduction band offset  Valence band offset  NEGATIVE ELECTRON-AFFINITY  INDIUM NITRIDE  WURTZITE GAN  SURFACE  FILM  ALN  TRANSPORT  EMISSION  NAXWO3  GROWTH   Hydride Vapor Phase Epitaxy Growth of Semipolar, 10(1)over-bar(3)over-barGaN on Patterned m-Plane Sapphire 期刊论文  OAI收割 journal of the electrochemical society, JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 2010, 2010, 卷号: 157, 157, 期号: 7, 页码: h721-h726, H721-H726 作者:  Wei TB (Wei T. B.);  Hu Q (Hu Q.);  Duan RF (Duan R. F.);  Wei XC (Wei X. C.);  Yang JK (Yang J. K.)   |  收藏  |  浏览/下载：292/52  |  提交时间：2010/06/18 atomic force microscopy  Atomic Force Microscopy