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• 近代物理研究所 [5]

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• OAI收割 [5]

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• 期刊论文 [5]

发表日期

• 2013 [5]

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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 限定条件 发表日期：2013    专题：近代物理研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择提交时间升序提交时间降序题名升序题名降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Large energy-loss straggling of swift heavy ions in ultra-thin active silicon layers 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS B, 2013, 卷号: 22 作者:  Duan Jing-Lai;  Yao Hui-Jun;  Mo Dan;  Liu Jie;  Liu Jian-De   |  收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2018/07/05 Single Event Effects  Energy-loss Straggling  Ultra-thin Silicon Layer  Monte Carlo Simulation   Angular dependence of multiple-bit upset response in static random access memories under heavy ion irradiation 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS B, 2013, 卷号: 22 作者:  Liu Jie;  Yao Hui-Jun;  Mo Dan;  Duan Jing-Lai;  Su Hong   |  收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2018/07/05 Single Event Effects  Effective Let Method  Multiple-bit Upset  Upset Cross Section   Monte Carlo simulation based on Geant4 of single event upset induced by heavy ions 期刊论文  OAI收割 SCIENCE CHINA-PHYSICS MECHANICS & ASTRONOMY, 2013, 卷号: 56, 页码: 1120-1125 作者:  Zhang ZhanGang;  Liu Jie;  Geng Chao;  Mo Dan;  Yao HuiJun   |  收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2018/07/05 Seu Occurrence  Sensitive Volume  Critical Charge  Deposited Energy  Mufpsa   Modeling the applicability of linear energy transfer on single event upset occurrence 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS C, 2013, 卷号: 37 作者:  Geng Chao;  Xi Kai;  Zhang Zhan-Gang;  Liu Jie;  Hou Ming-Dong   |  收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2018/07/05 Seu Occurrence  Let  Ion Track Structure  Energy Density   Monte Carlo evaluation of spatial multiple-bit upset sensitivity to oblique incidence 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS B, 2013, 卷号: 22 作者:  Geng Chao;  Mo Dan;  Yao Hui-Jun;  Duan Jing-Lai;  Sun You-Mei   |  收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/07/05 Geant4  Multiple-bit Upset (Mbu)  Critical Charge  Spacing Between Adjacent Cells