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一种用于半导体器件材料厚度的光学测量方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-08-24, 公开日期: 2016-03-01
作者:  封国强;  马英起;  韩建伟;  上官士鹏;  朱翔
收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2016/01/14
一种用于半导体器件材料吸收系数的光学测量方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-08-24, 公开日期: 2016-03-01
作者:  封国强;  马英起;  韩建伟;  上官士鹏;  朱翔
收藏  |  浏览/下载：62/0  |  提交时间：2016/01/14
一种暴露芯片衬底面的封装方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-08-24, 公开日期: 2016-03-01
作者:  封国强;  上官士鹏;  韩建伟;  马英起;  朱翔
收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2016/01/14
一种用于半导体器件材料反射率的光学测量方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-07-21, 公开日期: 2016-03-01
作者:  
收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2016/01/14
激光微束背部辐照芯片试验的聚焦平面定位装置及方法 专利  OAI收割
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2015-06-19, 公开日期: 2016-03-01
作者:  马英起;  韩建伟;  封国强;  姜昱光;  上官士鹏
收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2016/01/14
单粒子翻转敏感区定位的脉冲激光试验研究 期刊论文  OAI收割
原子能科学技术, 2015, 卷号: 49, 期号: 1, 页码: 176-180
作者:  余永涛;  封国强;  上官士鹏;  陈睿;  韩建伟
收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2015/09/28
K6R4016V1D芯片在低地球轨道发生单粒子效应频次的分析 期刊论文  OAI收割
空间科学学报, 2015, 卷号: 35, 期号: 1, 页码: 64-68
作者:  韩建伟;  封国强;  余永涛;  马英起;  上官士鹏
收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2015/09/28
FPGA单粒子效应动态故障测试装置及方法 专利  OAI收割
申请日期: 2014-08-22, 公开日期: 2014-12-03
作者:  朱翔;   封国强;   韩建伟;   姜昱光;   上官士鹏
  |  收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/02/26
90 nm互补金属氧化物半导体静态随机存储器局部单粒子闩锁传播效应诱发多位翻转的机理 期刊论文  OAI收割
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 12, 页码: 128501
作者:  陈睿;  余永涛;  上官士鹏;  封国强;  韩建伟
收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2015/09/22
不同工艺尺寸CMOS器件单粒子闩锁效应及其防护方法 期刊论文  OAI收割
强激光与粒子束, 2014, 卷号: 26, 期号: 7, 页码: 74005
作者:  陈睿;  余永涛;  董刚;  上官士鹏;  封国强
收藏  |  浏览/下载：87/0  |  提交时间：2015/09/22