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Engineering and Microscopic Mechanism of Quantum Emitters Induced by Heavy Ions in hBN
期刊论文
OAI收割
ACS PHOTONICS, 2021, 卷号: 8, 期号: 10, 页码: 2912-2922
作者:
Gu, Rui
;
Wang, Lei
;
Zhu, Huiping
;
Han, Shuangping
;
Bai, Yurong
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提交时间:2021/12/13
heavy ion irradiation
hBN
quantum emitters
PL mapping
production efficiency
point defects
Pastureland use of China: Accounting variations from different input-output analyses
期刊论文
OAI收割
LAND USE POLICY, 2021, 卷号: 109, 页码: 14
作者:
Li, Chaohui
;
Wu, Xudong
;
Chen, Guoqian
;
Han, Mengyao
;
Chen, Kuang
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提交时间:2022/09/21
China's pastureland resource
Embodied pastureland use
World economy
Systems input-output analysis
使用稀疏贝叶斯学习的水声多途信道盲估计
期刊论文
OAI收割
声学学报, 2021, 卷号: 46, 期号: 6, 页码: 789-799
作者:
郭启超
;
李风华
;
彭朝晖
;
牛海强
;
杨习山
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提交时间:2022/10/10
Preliminary single event effect distribution investigation on 28 nm soc using heavy ion microbeam
期刊论文
iSwitch采集
Nuclear instruments & methods in physics research section b-beam interactions with materials and atoms, 2019, 卷号: 450, 页码: 323-326
作者:
Yang, Weitao
;
Du, Xuecheng
;
Guo, Jinlong
;
Wei, Junze
;
Du, Guanghua
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提交时间:2019/10/08
Single event effect (see)
System on chip (soc)
Heavy ion microbeam
On-chip-memory (ocm)
Preliminary single event effect distribution investigation on 28 nm SoC using heavy ion microbeam
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2019, 卷号: 450, 页码: 323-326
作者:
Yang, Weitao
;
Du, Xuecheng
;
Guo, Jinlong
;
Wei, Junze
;
Du, Guanghua
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提交时间:2019/11/10
Single event effect (SEE)
System on Chip (SoC)
Heavy ion microbeam
On-chip-memory (OCM)
Comparison of holes trapping and protons transport induced by low dose rate gamma radiation in oxide on different SiGe processes
期刊论文
OAI收割
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 103, 期号: 12, 页码: 1-5
作者:
Li, P (Li, Pei)[ 1 ]
;
He, CH (He, ChaoHui)[ 1 ]
;
Guo, HX (Guo, HongXia)[ 2,3 ]
;
Zhang, JX (Zhang, JinXin)[ 4 ]
;
Li, YH (Li, YongHong)[ 1 ]
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提交时间:2020/01/10
SiGe HBTs
Oxide isolation
ELDRS
EHPs generation
Holes trapping
Protons transportation
An intracellular diamine oxidase triggered hyperpolarized Xe-129 magnetic resonance biosensor
期刊论文
OAI收割
CHEMICAL COMMUNICATIONS, 2018, 卷号: 54, 期号: 97, 页码: 5
作者:
Zhou, Xin
;
Ye, Chaohui
;
Liu, Maili
;
Yang, Yunhuang
;
Jiang, Weiping
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提交时间:2019/04/30
An Investigation of ELDRS in Different SiGe Processes
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2017, 卷号: 64, 期号: 5, 页码: 1137-1141
作者:
Li, P (Li, Pei)
;
He, CH (He, Chaohui)
;
Guo, HX (Guo, Hongxia)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Zhang, JX (Zhang, Jinxin)
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提交时间:2017/06/20
Different silicon-germanium (SiGe) process
emitter-base (EB)-spacer geometry
enhanced low dose rate sensitivity (ELDRS)
isolation structure
Heavy ion micro-beam study of single-event transient (SET) in SiGe heterjunction bipolar transistor
期刊论文
OAI收割
Science China-Information Sciences, 2017, 卷号: 60, 期号: 12, 页码: 1-3
作者:
Zhang, JX (Zhang, Jinxin)
;
Guo, HX (Guo, Hongxia)
;
Zhang, FQ (Zhang, Fengqi)
;
He, CH (He, Chaohui)
;
Li, P (Li, Pei)
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提交时间:2018/01/19
Impact of Bias Conditions on Total Ionizing Dose Effects of Co-60 gamma in SiGe HBT
期刊论文
OAI收割
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2016, 卷号: 63, 期号: 2, 页码: 1251-1258
作者:
Zhang, JX (Zhang, Jinxin)
;
Guo, Q (Guo, Qi)
;
Guo, HX (Guo, Hongxia)
;
Lu, W (Lu, Wu)
;
He, CH (He, Chaohui)
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提交时间:2016/12/12
Bias conditions
Co-60 gamma irradiation
SiGe HBT
total ionizing dose effect