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浏览/检索结果: 共47条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Theoretical insight into the degradation of p-nitrophenol by OH radicals synergized with other active oxidants in aqueous solution 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF HAZARDOUS MATERIALS, 2020, 卷号: 389, 页码: - 作者:  Mei, Q;  Cao, HJ;  Han, DD;  Li, MY;  Yao, SD   |  收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2021/09/06 DENSITY-FUNCTIONAL THEORY  PHOTOCATALYTIC DEGRADATION  THERMODYNAMIC PROPERTIES  AROMATIC CONTAMINANTS  WASTE-WATER  OXIDATION  KINETICS  MECHANISM  HYDROXYL  ENVIRONMENT   Characteristics and sources of halogenated hydrocarbons in the Yellow River Delta region, northern China 期刊论文  OAI收割 ATMOSPHERIC RESEARCH, 2019, 卷号: 225, 页码: 70-80 作者:  Zheng, PG;  Chen, TS;  Dong, C;  Liu, YH;  Li, HY   |  收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2020/07/08 Halocarbons  Yellow River Delta  Oil field  Positive matrix factorization  Montreal Protocol   Calibration and Calculation of Polarization Lidar 期刊论文  OAI收割 EARTH AND SPACE SCIENCE, 2019, 卷号: 6, 期号: 7, 页码: 1161-1170 作者:  Xian, JH   |  收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2020/07/08 DUST  CLOUDS   Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment 会议论文  OAI收割 作者:  Li BH(李彬鸿);  Huang Y(黄杨);  J.Wu;  Huang YB(黄云波);  Li B(李博)   |  收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2019/05/13 Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 会议论文  OAI收割 作者:  Li B(李博);  Huang YB(黄云波);  L.Yang;  Zhang QZ(张青竹);  Zheng ZS(郑中山)   |  收藏  |  浏览/下载：51/0  |  提交时间：2019/05/13 Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment 期刊论文  OAI收割 Microelectronics Reliability, 2018 作者:  Zhang QZ(张青竹);  Yin HX(殷华湘);  Han ZS(韩郑生);  Luo JJ(罗家俊);  Li B(李博)   |  收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2019/03/27 Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs 期刊论文  OAI收割 Microelectronics Reliability, 2018 作者:  Zheng ZS(郑中山);  Huang YB(黄云波);  Li B(李博);  Luo JJ(罗家俊);  Han ZS(韩郑生)   |  收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2019/03/28 Total Ionizing Dose Response and Annealing Behavior of Bulk nFinFETs With ON-State Bias Irradiation 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018 作者:  Yang L(杨玲);  Zhang QZ(张青竹);  Huang YB(黄云波);  Zheng ZS(郑中山);  Li B(李博)   |  收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/03/28 Total Ionizing Dose Response and Annealing Behavior of Bulk nFinFETs With ON-State Bias Irradiation 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 8, 页码: 1503-1510 作者:  Yang, L (Yang, Ling)[ 1,2 ];  Zhang, QZ (Zhang, Qingzhu)[ 1,3 ];  Huang, YB (Huang, Yunbo)[ 1,2 ];  Zheng, ZS (Zheng, Zhongshan)[ 1,2 ];  Li, B (Li, Bo)[ 1,2 ]   |  收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2018/09/18 Anneal  Finfet  On-state Bias  Total Ionizing Dose (Tid)   Anomalous Total Dose Response and Room-Temperature Annealing Behavior in Bulk nFinFETs 会议论文  OAI收割 作者:  Zheng ZS(郑中山);  Huang YB(黄云波);  Yang L(杨玲);  Han ZS(韩郑生);  Luo JJ(罗家俊)   |  收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2018/07/20