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上海微系统与信息技术... [6]
采集方式
OAI收割 [6]
内容类型
期刊论文 [6]
发表日期
2010 [1]
2009 [2]
2004 [1]
2003 [1]
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学科主题
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Characterization and analysis of silicon on insulator fabricated by separation by implanted oxygen layer transfer
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2010, 卷号: 28, 期号: 1, 页码: 163-168
Wei,X
;
Wu,AM
;
Wang,X
;
Li,XY
;
Ye,F
;
Chen,J
;
Chen,M
;
Zhang,B
;
Li,CL
;
Zhang,M
;
Wang,X
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提交时间:2012/03/24
LOW-DOSE SEPARATION
PSEUDO-MOS TRANSISTOR
BURIED OXIDE LAYERS
THERMAL-OXIDATION
WAFERS
SOI
FILM
SOICMOS
Oxygen gettering in Si by He ion implantation-induced cavity layer
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2009, 卷号: 20, 期号: 4, 页码: 202-207
Ou, X
;
Zhang, B
;
Wu, AM
;
Zhang, M
;
Wang, X
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2012/03/24
BURIED OXIDE LAYERS
SILICON
DISLOCATIONS
GENERATION
VOIDS
AU
Oxygen gettering in Si by He ion implantation-induced cavity layer
期刊论文
OAI收割
NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES, 2009, 卷号: 20, 期号: 4, 页码: 202-207
Ou, X
;
Zhang, B(重点实验室)
;
Wu, AM
;
Zhang, M(重点实验室)
;
Wang, X(重点实验室)
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提交时间:2013/05/10
BURIED OXIDE LAYERS
SILICON
DISLOCATIONS
GENERATION
VOIDS
AU
Comparative study of SOI/Si hybrid substrates fabricated using high-dose and low-dose oxygen implantation
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2004, 卷号: 37, 期号: 13, 页码: 1732-1735
Dong, YM
;
Chen, M
;
Chen, J
;
Wang, X
;
Wang, X
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提交时间:2012/03/24
BURIED OXIDE LAYERS
ION-IMPLANTATION
SILICON
OXIDATION
Fabrication of device-grade silicon-on-insulator material from appropriate matches of low oxygen implantation dose and acceleration energy
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 2003, 卷号: 21, 期号: 5, 页码: 2001-2010
Chen, M
;
Wang, X
;
Chen, J
;
Dong, YM
;
Yi, WB
;
Liu, XH
;
Wang, X
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提交时间:2012/03/24
OXIDATION ITOX PROCESS
BURIED OXIDE LAYERS
SIMOX WAFERS
ION-IMPLANTATION
TEMPERATURE
SEPARATION
Fabrication of device-grade separation-by-implantation-of-oxygen materials by optimizing dose-energy match
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH, 2002, 卷号: 17, 期号: 7, 页码: 1634-1643
Chen,M
;
Yu,YH
;
Wang,X
;
Wang,X
;
Chen,J
;
Liu,XH
;
Dong,YM
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提交时间:2012/03/24
BURIED OXIDE
ION-IMPLANTATION
SIMOX
SILICON
LAYERS
TEMPERATURE
WAFERS