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物理研究所 [1]
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采集方式
OAI收割 [3]
内容类型
期刊论文 [2]
外文期刊 [1]
发表日期
2010 [1]
2009 [2]
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共3条,第1-3条
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不同型号PMOSFETs的剂量率效应研究
期刊论文
OAI收割
核技术, 2010, 期号: 7, 页码: 543-546
作者:
兰博
;
郭旗
;
孙静
;
崔江维
;
李茂顺
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提交时间:2012/11/29
PMOSFETs
偏置
剂量率
时间相关效应
低剂量率损伤增强效应
Finite-element study of strain field in strained-Si MOSFET
期刊论文
OAI收割
MICRON, 2009, 卷号: 40, 期号: 2, 页码: 274
Liu, HH
;
Duan, XF
;
Xu, QX
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提交时间:2013/09/17
BEAM ELECTRON-DIFFRACTION
HOLE MOBILITY ENHANCEMENT
ELASTIC RELAXATION
LAYER SUPERLATTICES
EFFECT TRANSISTORS
CMOS PERFORMANCE
SILICON
SPECIMENS
PMOSFETS
Finite-element study of strain field in strained-Si MOSFET
外文期刊
OAI收割
2009
作者:
Liu, HH
;
Xu, QX
;
Duan, XF
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浏览/下载:20/0
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提交时间:2010/11/26
Beam Electron-diffraction
Hole Mobility Enhancement
Elastic Relaxation
Layer Superlattices
Effect Transistors
Cmos Performance
Silicon
Specimens
Pmosfets