机构

• 半导体研究所 [2]
• 力学研究所 [1]
• 高能物理研究所 [1]
• 合肥物质科学研究院 [1]

采集方式

• OAI收割 [4]
• iSwitch采集 [1]

内容类型

• 期刊论文 [5]

发表日期

• 2022 [1]
• 2020 [1]
• 2010 [2]
• 2004 [1]

学科主题

• Physics [1]
• 光电子学 [1]

筛选

浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 A 3D Polycrystalline Plasticity Model for Isotropic Linear Evolution of Intragranular Misorientation with Mesoscopic Plastic Strain in Stretched or Cyclically Deformed Metals 期刊论文  OAI收割 METALS, 2022, 卷号: 12, 期号: 12, 页码: 21 作者:  Rui SS(芮少石);  Su, Yue;  Zhao, Jia-Min;  Shang, Zhi-Hao;  Shi, Hui-Ji   |  收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2023/02/03 2D-EBSD mapping  intragranular misorientation  KAM and GROD  isotropic linear evolution  mesoscopic plastic strain  3D polycrystalline plasticity model   Complete Strain Mapping of Nanosheets of Tantalum Disulfide 期刊论文  OAI收割 ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, 2020, 卷号: 12 作者:  Cao, Yue;  Assefa, Tadesse;  Banerjee, Soham;  Wieteska, Andrew;  Wang, Dennis Zi-Ren   |  收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2020/11/30 quasi-2D materials  nano X-ray diffraction  strain tensor  strain mapping  Young's modulus   Evaluation of both composition and strain distributions in ingan epitaxial film using x-ray diffraction techniques 期刊论文  iSwitch采集 Chinese physics b, 2010, 卷号: 19, 期号: 10, 页码: 7 作者:  Guo Xi;  Wang Hui;  Jiang De-Sheng;  Wang Yu-Tian;  Zhao De-Gang 收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2019/05/12 Ingan  In-plane grazing incidence x-ray diffraction  Reciprocal space mapping  Biaxial strain   Evaluation of both composition and strain distributions in InGaN epitaxial film using x-ray diffraction techniques 期刊论文  OAI收割 chinese physics b, 2010, 卷号: 19, 期号: 10, 页码: art. no. 106802 Guo X (Guo Xi); Wang H (Wang Hui); Jiang DS (Jiang De-Sheng); Wang YT (Wang Yu-Tian); Zhao DG (Zhao De-Gang); Zhu JJ (Zhu Jian-Jun); Liu ZS (Liu Zong-Shun); Zhang SM (Zhang Shu-Ming); Yang H (Yang Hui) 收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2010/11/02 InGaN  In-plane grazing incidence x-ray diffraction  reciprocal space mapping  biaxial strain  CRITICAL LAYER THICKNESS  OPTICAL-PROPERTIES  LATTICE-CONSTANTS  GAN  HETEROSTRUCTURES  ALLOYS  WELLS   Microstructures and strain relaxation in modulation-doped AlxGa1-xN/GaN heterostructures 期刊论文  OAI收割 INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS B, 2004, 卷号: 18, 期号: 7, 页码: 989-998 作者:  Tan, WS;  Shen, B;  Sha, H;  Cai, HL;  Wu, XS 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2016/06/29 high resolution X-ray diffraction  metal organic chemical vapor deposition  reciprocal space mapping  semiconducting III-V nitride  strain relaxation  relaxation line model