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共22条,第1-10条
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Constant voltage stress characterization of nFinFET transistor during total ionizing dose experiment
会议论文
OAI收割
作者:
Li BH(李彬鸿)
;
Huang Y(黄杨)
;
J.Wu
;
Huang YB(黄云波)
;
Li B(李博)
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2019/05/13
Process variation dependence of total ionizing dose effects in bulk nFinFETs
会议论文
OAI收割
作者:
Li B(李博)
;
Huang YB(黄云波)
;
L.Yang
;
Zhang QZ(张青竹)
;
Zheng ZS(郑中山)
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浏览/下载:46/0
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提交时间:2019/05/13
Comparison of 10 Mev Electron Beam Irradiation Effect on InGaN/GaN and AlGaN/GaN Multiple Quantum Well
会议论文
OAI收割
作者:
Bo Mei
;
Wang L(王磊)
;
Qingxuan Li
;
Ningyang Liu
;
Ligang Song
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浏览/下载:50/0
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提交时间:2019/05/10
System Anslysis and PHM Methods for Power Devices Based on Physics-of-Failure
会议论文
OAI收割
作者:
Gao B(高博)
;
Wang LX(王立新)
;
Zhang YL(张宇隆)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Luo JJ(罗家俊)
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2018/07/20
An Effective Method to Compensate TID Induced Degradation on DSOI Structure
会议论文
OAI收割
作者:
Zheng ZS(郑中山)
;
Li BH(李彬鸿)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Luo JJ(罗家俊)
;
Huang Y(黄杨)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2018/07/20
Anomalous Total Dose Response and Room-Temperature Annealing Behavior in Bulk nFinFETs
会议论文
OAI收割
作者:
Zheng ZS(郑中山)
;
Huang YB(黄云波)
;
Yang L(杨玲)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Luo JJ(罗家俊)
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2018/07/20
Development of relative angle determinable stitching interferometry for high accuracy X-ray focusing mirrors
会议论文
OAI收割
San Diego, CA, AUG 06-07, 2017
作者:
Shi, YN
;
Xu, XD
;
Huang, QS
;
Wang, H
;
Li, AG
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浏览/下载:12/0
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提交时间:2019/12/31
COMPOUND REFRACTIVE LENSES
DIFFRACTION
Study Of RBSOA Reliability Of Nanoscale Partially Narrow Mesa IGBT (PNM-IGBT)
会议论文
OAI收割
作者:
Lu J(陆江)
;
Liu HN(刘海南)
;
Luo JJ(罗家俊)
;
Wang LX(王立新)
;
Zhang GH(张国欢)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2017/05/19
Experimental Study of Single Event Upset and Single Event Latch-up in SOI SRAM
会议论文
OAI收割
作者:
Zhang HY(张宏远)
;
Wang LF(王林飞)
;
Liu HN(刘海南)
;
Chen LK(陈丽坤)
;
Zhou YL(周月琳)
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2017/05/19
Prognostics and Health Management for VDMOS Basedon Physics-of-Failure
会议论文
OAI收割
作者:
Luo JJ(罗家俊)
;
Han ZS(韩郑生)
;
Zhang YL(张宇隆)
;
Wang LL(王路璐)
;
Gao B(高博)
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2017/05/19