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机构
半导体研究所 [11]
采集方式
iSwitch采集 [11]
内容类型
期刊论文 [11]
发表日期
2008 [2]
2007 [2]
2006 [5]
2004 [2]
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共11条,第1-10条
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Influence of electron irradiation on hydrothermally grown zinc oxide single crystals
期刊论文
iSwitch采集
Semiconductor science and technology, 2008, 卷号: 23, 期号: 9, 页码: 6
作者:
Lu, L. W.
;
So, C. K.
;
Zhu, C. Y.
;
Gu, Q. L.
;
Li, C. J.
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提交时间:2019/05/12
Annihilation of deep level defects in inp through high temperature annealing
期刊论文
iSwitch采集
Journal of physics and chemistry of solids, 2008, 卷号: 69, 期号: 2-3, 页码: 551-554
作者:
Zhao, Y. W.
;
Dong, Z. Y.
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提交时间:2019/05/12
Defect
Thermally induced fe atom transition from substitutional to interstitial sites in inp and its influence on material property
期刊论文
iSwitch采集
Acta physica sinica, 2007, 卷号: 56, 期号: 9, 页码: 5536-5541
作者:
Zhao You-Wen
;
Miao Shan-Shan
;
Dong Zhi-Yuan
;
Lue Xiao-Hong
;
Deng Ai-Hong
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提交时间:2019/05/12
Indium phosphide
Fe activation
Annealing
Semi-insulating
Influence of deep level defects on electrical compensation in semi-insulating inp materials
期刊论文
iSwitch采集
Acta physica sinica, 2007, 卷号: 56, 期号: 2, 页码: 1167-1171
作者:
Yang Jun
;
Zhao You-Wen
;
Dong Zhi-Yuan
;
Deng Ai-Hong
;
Miao Shan-Shan
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提交时间:2019/05/12
Inp
Semi-insulating
Deep level
Electric compensation
Origin of deep level defect related photoluminescence in annealed inp
期刊论文
iSwitch采集
Journal of applied physics, 2006, 卷号: 100, 期号: 12, 页码: 4
作者:
Zhao, Youwen
;
Dong, Zhiyuan
;
Miao, Shanshan
;
Deng, Aihong
;
Yang, Jun
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2019/05/12
Growth and characterization of semi-insulating gan films grown by mocvd
期刊论文
iSwitch采集
Journal of rare earths, 2006, 卷号: 24, 页码: 14-18
作者:
Fang, CB
;
Wang, XL
;
Hu, GX
;
Wang, JX
;
Wang, CM
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提交时间:2019/05/12
Mocvd
Gan
Resistivity
Tsc
Growth of high quality semi-insulating inp single crystal by suppression of compensation defects
期刊论文
iSwitch采集
Journal of rare earths, 2006, 卷号: 24, 页码: 75-77
作者:
Zhao, YW
;
Dong, ZY
;
Duan, ML
;
Sun, WR
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提交时间:2019/05/12
Indium phosphide
Defect
Semi-insualting
Electron irradiation-induced defects in inp pre-annealed at high temperature
期刊论文
iSwitch采集
Materials science in semiconductor processing, 2006, 卷号: 9, 期号: 1-3, 页码: 380-383
作者:
Zhao, Y. W.
;
Dong, Z. Y.
;
Deng, A. H.
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提交时间:2019/05/12
Indium phosphide
Defect
Irradiation
Development of current-based microscopic defect analysis method using optical filling techniques for the defect study on heavily irradiated high-resistivity si sensors/detectors
期刊论文
iSwitch采集
Materials science in semiconductor processing, 2006, 卷号: 9, 期号: 1-3, 页码: 283-287
作者:
Li, Z.
;
Li, C. J.
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提交时间:2019/05/12
Dlts
Defects
Detectors
Sensors
Current transient
Annealing ambient controlled deep defect formation in inp
期刊论文
iSwitch采集
European physical journal-applied physics, 2004, 卷号: 27, 期号: 1-3, 页码: 167-169
作者:
Zhao, YW
;
Dong, ZY
;
Duan, ML
;
Sun, WR
;
Zeng, YP
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提交时间:2019/05/12