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浏览/检索结果: 共24条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 创新价值链视角下企业创新效率差异及影响因素分析——基于江苏省国家高新区企业的验证 CNKI期刊论文  OAI收割 2021 作者:  储姗姗;  汪涛;  夏四友;  杨雪梅;  陈静   |  收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2022/10/11 创新价值链  创新效率  国家高新区  两阶段DEA模型   Reinforcing and discriminative-stimulus effects of two pyrrolidine-containing synthetic cathinone derivatives in rats 期刊论文  OAI收割 PHARMACOLOGY BIOCHEMISTRY AND BEHAVIOR, 2021, 卷号: 203 作者:  Xu, Peng;  Lai, Miaojun;  Fu, Dan;  Liu, Huifen;  Wang, Youmei   |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2021/12/01 Recrystallization effects in GeV Bi ion implanted 4H-SiC Schottky barrier diode investigated by cross-sectional Micro-Raman spectroscopy 期刊论文  OAI收割 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2020, 卷号: 478, 页码: 5-10 作者:  Huang, Mingmin;  Yang, Zhimei;  Wang, Shaomin;  Liu, Jiyuan;  Gong, Min   |  收藏  |  浏览/下载：49/0  |  提交时间：2021/12/15 Schottky barrier diodes  Raman spectroscopy  Recrystallization effect  Swift heavy ion  SiC   A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM 会议论文  OAI收割 作者:  Yan, Weiwei;  Wang, Bin;  Zeng, Chuanbin;  Geng, Chao;  Liu, Tianqi   |  收藏  |  浏览/下载：54/0  |  提交时间：2018/08/20 Heavy ion irradiation  Single event upset  Active delay element  SRAM cell  Radiation hardened  Silicon-on-insulator   Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices 会议论文  OAI收割 作者:  Xi, Kai;  Luo, Jie;  Liu, Jie;  Sun, Youmei;  Hou, Mingdong   |  收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2018/08/20 Swift heavy ions  Ion flux  Single event effect  Memory device   Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices 会议论文  OAI收割 作者:  Xi, Kai;  Sun, Youmei;  Luo, Jie;  Liu, Jie;  Liu, Tianqi   |  收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2018/08/20 Swift heavy ions  Ion flux  Single event effect  Memory device   A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM 期刊论文  OAI收割 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 437-442 作者:  Wang, Bin;  Zeng, Chuanbin;  Geng, Chao;  Liu, Tianqi;  Khan, Maaz   |  收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2018/05/31 Heavy ion irradiation  Single event upset  Active delay element  SRAM cell  Radiation hardened  Silicon-on-insulator   Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices 期刊论文  OAI收割 NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS, 2017, 卷号: 406, 页码: 431-436 作者:  Luo, Jie;  Liu, Jie;  Sun, Youmei;  Hou, Mingdong;  Xi, Kai   |  收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2018/05/31 Swift heavy ions  Ion flux  Single event effect  Memory device   Large Rectification Effect of Single Graphene Nanopore Supported by PET Membrane 期刊论文  OAI收割 ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, 2017, 卷号: 9, 页码: 11000-11008 作者:  Cheng, Yaxiong;  Loa, Zongzhen;  Zhai, Pengfei;  Zeng, Jian;  Yao, Huijun   |  收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2018/05/31 Graphene Nanopore  Pet Membrane  Ion rectificatIon Effect  Inversion  Ion irradiatIon