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• 新疆理化技术研究所 [20]
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• OAI收割 [22]

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• 期刊论文 [22]

发表日期

• 2019 [2]
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浏览/检索结果: 共22条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Total Ionizing Dose Influence on the Single-Event Multiple-Cell Upsets in 65-nm 6-T SRAM 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 6, 页码: 892-898 作者:     |  收藏  |  浏览/下载：88/0  |  提交时间：2019/11/10 Single-event multiple-cell upsets (MCUs)  static random access memory  total ionizing dose (TID)   Total Ionizing Dose Responses of Forward Body Bias Ultra-Thin Body and Buried Oxide FD-SOI Transistors 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2019, 卷号: 66, 期号: 4, 页码: 702-709 作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen)[ 1 ];  Cui, JW (Cui, Jiangwei)[ 1 ];  Xu, LW (Xu, Liewei)[ 2 ];  Ning, BX (Ning, Bingxu)[ 3 ];  Zhao, K (Zhao, Kai)[ 3 ]   |  收藏  |  浏览/下载：115/0  |  提交时间：2019/05/14 Back-gate biasing  forward body bias (FBB)  total ionizing dose (TID)  ultrathin body and buried oxide fully depleted silicon-on-insulator (UTBB FD-SOI)   Bias Dependence of Radiation-Induced Narrow-Width Channel Effects in 65 nm NMOSFETs 期刊论文  OAI收割 CHINESE PHYSICS LETTERS, 2018, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 1-4 作者:  Zheng, QW (Zheng, Qi-Wen);  Cui, JW (Cui, Jiang-Wei);  Wei, Y (Wei, Ying);  Yu, XF (Yu, Xue-Feng);  Lu, W (Lu, Wu)   |  收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2018/05/07 Read Static Noise Margin Decrease of 65-nm 6-T SRAM Cell Induced by Total Ionizing Dose 期刊论文  OAI收割 IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 2018, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 691-697 作者:  Zheng, QW (Zheng, Qiwen);  Cui, JW (Cui, Jiangwei);  Yu, XF (Yu, Xuefeng);  Lu, W (Lu, Wu);  He, CF (He, Chengfa)   |  收藏  |  浏览/下载：53/0  |  提交时间：2018/05/15 Static Noise Margin (Snm)  Static Random Access Memory (Sram)  Total Ionizing Dose (Tid)   Hot-carrier effects on irradiated deep submicron NMOSFET 期刊论文  OAI收割 Journal of Semiconductors, 2014, 卷号: 35, 期号: 7 作者:  Cui, Jiangwei;  Zheng, Qiwen;  Yu, Xuefeng;  Cong, Zhongchao;  Zhou, Hang 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2014/11/11 Total dose ionizing irradiation effects on a static random access memory field programmable gate array 期刊论文  OAI收割 Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 3 作者:  Gao, Bo;  Yu, Xuefeng;  Ren, Diyuan;  Li, Yudong;  Sun, Jing 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2014/11/11 栅控横向PNP双极晶体管电离辐射效应 期刊论文  OAI收割 Nuclear Techniques, 2012, 卷号: 35, 期号: 11 作者:  Xi Shanbin;  Lu Wu;  Ren Diyuan;  Wang Zhikuan;  Zhou Dong 收藏  |  浏览/下载：35/0  |  提交时间：2013/11/07 PNP双极晶体管  60Co-gamma辐照  辐照感生电荷  电荷分离   Total dose irradiation and hot-carrier effects of sub-micro NMOSFETs 期刊论文  OAI收割 Journal of Semiconductors, 2012, 卷号: 33, 期号: 1 作者:  Cui, Jiangwei;  Xue, Yaoguo;  Yu, Xuefeng;  Ren, Diyuan;  Lu, Jian 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2014/11/11 RELATIONSHIP BETWEEN SILICON-ON-INSULATOR KINK AND RADIATION EFFECTS 期刊论文  OAI收割 INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS E-NUCLEAR PHYSICS, 2011, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 1409-1417 作者:  Cui Jiangwei;  Yu Xuefeng;  Ren Diyuan 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2012/11/29 SOI  kink  radiation   Double humps and radiation effects of SOI NMOSFET 期刊论文  OAI收割 Journal of Semiconductors, 2011, 卷号: 32, 期号: 6 作者:  Cui, Jiangwei;  Yu, Xuefeng;  Ren, Diyuan;  He, Chengfa;  Gao, Bo 收藏  |  浏览/下载：28/0  |  提交时间：2014/11/11