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微电子研究所 [2]
上海微系统与信息技术... [2]
金属研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [5]
内容类型
期刊论文 [4]
会议论文 [1]
发表日期
2010 [1]
2009 [2]
2006 [1]
2002 [1]
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共5条,第1-5条
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电化学腐蚀中多孔硅边缘效应的研究
期刊论文
OAI收割
传感器与微系统, 2010, 期号: 10
张圣
;
焦继伟
;
葛道晗
;
顾佳晔
;
严培力
;
张颖
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提交时间:2012/01/06
高K栅介质
HfO_2
Hf基高K栅介质材料
MOSFET器件
先栅工艺中高K/双金属栅集成研究新进展
期刊论文
OAI收割
微电子学, 2009, 卷号: 39, 期号: 6, 页码: 6,829-834
作者:
李永亮
;
徐秋霞
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浏览/下载:22/0
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提交时间:2010/06/01
高k材料
金属栅
费米能级钉扎效应 盖帽层
离子注入
功函数
电荷俘获存储器中俘获层的研究进展
期刊论文
OAI收割
微纳电子技术, 2009, 卷号: 46, 期号: 9, 页码: 8,518-524,539
作者:
刘璟
;
杨仕谦
;
王永
;
杨潇楠
;
陈军宁
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2010/06/01
高k材料
非挥发性存储器(nvm) 电荷俘获存储器
俘获层
隧穿层
HfO2/Si(001)界面层的TEM研究
会议论文
OAI收割
2006年全国电子显微学会议, 沈阳, 2006-08-26
卓木金
;
马秀良
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2013/08/21
栅氧化层
氧化硅
高K介质材料
隧穿效应
栅介质层
微电子技术
新型高k栅介质材料研究进展
期刊论文
OAI收割
功能材料, 2002, 期号: 04
章宁琳
;
宋志棠
;
万青
;
林成鲁
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浏览/下载:94/0
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提交时间:2012/03/29
K1 MOSFET
高k材料
栅介质