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浏览/检索结果: 共29条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Effect of Mg addition on temper embrittlement in 2.25Cr-1Mo steel doped with 0.056% P-Mg segregation behavior at grain boundary 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF IRON AND STEEL RESEARCH INTERNATIONAL, 2020, 页码: 9 作者:  Li, Xiao-bing;  Dong, Xin;  Zhao, Peng-xiang;  Xing, Wei-wei;  Ding, Lei-lei   |  收藏  |  浏览/下载：52/0  |  提交时间：2021/02/02 2.25Cr-1Mo steel  Temper embrittlement  Mg  P  Segregation  Auger electron spectroscopy   Effect of Mg addition on temper embrittlement in 2.25Cr-1Mo steel doped with 0.056% P-Mg segregation behavior at grain boundary 期刊论文  OAI收割 JOURNAL OF IRON AND STEEL RESEARCH INTERNATIONAL, 2020, 页码: 9 作者:  Li, Xiao-bing;  Dong, Xin;  Zhao, Peng-xiang;  Xing, Wei-wei;  Ding, Lei-lei   |  收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2021/02/02 2.25Cr-1Mo steel  Temper embrittlement  Mg  P  Segregation  Auger electron spectroscopy   Fabrication, morphology and mechanical properties of Al2O3-Al graded coatings on China low activation martensitic steel substrates 期刊论文  OAI收割 surface and interface analysis, Surface and Interface Analysis, 2011, 2011 作者:  Song, Binbin;  Wu, Ping;  Chen, Sen;  Zhang, Shiping;  Yan, Dan   |  收藏  |  浏览/下载：57/0  |  提交时间：2012/06/14 Adhesion  Auger electron spectroscopy  Fabrication  Hardness  Magnetron sputtering  Martensitic steel  Morphology  Nanoindentation  Protective coatings  Scanning electron microscopy  Silicon wafers  X ray photoelectron spectroscopy  Adhesion  Auger Electron Spectroscopy  Fabrication  Hardness  Magnetron Sputtering  Martensitic Steel  Morphology  Nanoindentation  Protective Coatings  Scanning Electron Microscopy  Silicon Wafers  x Ray Photoelectron Spectroscopy   Site preference of Ru in NiAl and valence band structure of NiAl containing Ru: First-principles study and photoelectron spectrum 期刊论文  OAI收割 Philosophical Magazine Letters, 2010, 卷号: 90, 期号: 4, 页码: 225-232 H. Wei; J. J. Liang; B. Z. Sun; Q. Zheng; X. F. Sun; P. Peng; M. S. Dargusch; X. Yao 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/04/13 NiAl-Ru alloys  valence band structure  Auger electron spectroscopy  (AES)  auger parameter  ab-initio  alloys  magnetism  additions  system  energy  atoms  cr  re   Valence band structure of the NiAl-Mo alloy from the photoelectron spectrum 期刊论文  OAI收割 Philosophical Magazine Letters, 2010, 卷号: 90, 期号: 5, 页码: 299-311 H. Wei; J. J. Liang; P. Peng; Q. Zheng; X. F. Sun; B. Z. Sun; M. S. Dargusch; X. Yao 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2012/04/13 NiAl-Mo alloys  valance band structure  Auger electron spectroscopy  atomic emission-spectrometry  electronic-structure  auger parameter  site preference  cr  photoemission  stability  magnetism  additions  systems   Investigation of mn-implanted n-si by low-energy ion beam deposition 期刊论文  iSwitch采集 Journal of crystal growth, 2005, 卷号: 273, 期号: 3-4, 页码: 458-463 作者:  Liu, LF;  Chen, NF;  Song, SL 收藏  |  浏览/下载：29/0  |  提交时间：2019/05/12 Auger electron spectroscopy  X-ray diffraction  Low-energy ion beam deposition  Semiconducting silicon   Investigation of Mn-implanted n-Si by low-energy ion beam deposition 期刊论文  OAI收割 journal of crystal growth, 2005, 卷号: 273, 期号: 3-4, 页码: 458-463 作者:  Yin ZG 收藏  |  浏览/下载：53/0  |  提交时间：2010/03/17 auger electron spectroscopy   Properties of high k gate dielectric gadolinium oxide deposited on si(100) by dual ion beam deposition (dibd) 期刊论文  iSwitch采集 Journal of crystal growth, 2004, 卷号: 270, 期号: 1-2, 页码: 21-29 作者:  Zhou, JP;  Chai, CL;  Yang, SY;  Liu, ZK;  Song, SL 收藏  |  浏览/下载：47/0  |  提交时间：2019/05/12 Auger electron spectroscopy  Atomic force microscopy  Crystal structures  X-ray photoelectron spectroscopy  Ion-beam deposition  Oxides   Investigation of mn-implanted n-type ge 期刊论文  iSwitch采集 Journal of crystal growth, 2004, 卷号: 265, 期号: 3-4, 页码: 466-470 作者:  Liu, LF;  Chen, NF 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/05/12 Auger electron spectroscopy  X-ray diffraction  Ion implantation  Semiconducting germanium   Fexsi grown with mass-analyzed low-energy dual ion beam deposition 期刊论文  iSwitch采集 Journal of crystal growth, 2004, 卷号: 263, 期号: 1-4, 页码: 143-147 作者:  Liu, LF;  Chen, NF;  Zhang, FQ;  Chen, CL;  Li, YL 收藏  |  浏览/下载：32/0  |  提交时间：2019/05/12 Auger electron spectroscopy  X-ray diffraction  Ion beam deposition  Semiconducting silicon