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Preparation of single-crystal TiC (111) by radio frequency magnetron sputtering at low temperature
期刊论文
OAI收割
THIN SOLID FILMS, 2012, 卷号: 520, 页码: 6882-6887
作者:
Qi, Q.
;
Zhang, W. Z.
;
Shi, L. Q.
;
Zhang, W. Y.
;
Zhang, W.
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提交时间:2018/07/04
Titanium Carbide
Radio-frequency Magnetron Sputtering
Rutherford Backscattering Spectroscopy
X-ray Diffraction
A study of damage evolution during annealing of helium-implanted magnesium-aluminate spinel
期刊论文
OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2008, 卷号: 57, 期号: 8, 页码: 5165-5169
作者:
Zhang Chong-Hong
;
Zhou Li-Hong
;
Li Bing-Sheng
;
Yang Yi-Tao
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2015/10/15
implantation
He
spinel
Rutherford backscattering in channeling geometry
铝镁尖晶石中He离子注入引起损伤的退火行为研究
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2008, 卷号: 57, 期号: 8, 页码: 5165-5169
Yang, YT (Yang Yi-Tao)
;
Zhang, CH (Zhang Chong-Hong)
;
Zhou, LH (Zhou Li-Hong)
;
Li, BS (Li Bing-Sheng)
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2010/10/29
Implantation
He
Spinel
Rutherford BackscatterIng In channelIng Geometry
Studies of the thin oxide of epitaxial sige/si film by high resolution grazing angle rutherford backscattering spectrometry and channeling
期刊论文
iSwitch采集
Electronic materials letters, 2007, 卷号: 3, 期号: 2, 页码: 63-67
作者:
Chen, ChangChun
;
Liu, Jiangfeng
;
Yu, BenHai
;
Zhu, DeZhang
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提交时间:2019/04/23
Grazing angle rutherford backscattering spectrometry
Strain
Sige/si heterosystem
Depth dependence of structural quality in inn grown by metalorganic chemical vapor deposition
期刊论文
iSwitch采集
Materials letters, 2007, 卷号: 61, 期号: 2, 页码: 516-519
作者:
Wang, H.
;
Huang, Y.
;
Sun, Q.
;
Chen, J.
;
Zhu, J. J.
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提交时间:2019/05/12
X-ray diffraction
Rutherford backscattering
Metalorganic chemical vapor deposition
Inn
Chemical composition and elastic strain in alingan quaternary films
期刊论文
iSwitch采集
Thin solid films, 2006, 卷号: 515, 期号: 4, 页码: 1429-1432
作者:
Zhou, Shengqiang
;
Wu, M. F.
;
Yao, S. D.
;
Liu, J. P.
;
Yang, H.
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提交时间:2019/05/12
Rutherford backscattering spectroscopy
Stress
X-ray diffraction
Quaternary compounds
Iii-v semiconductors
Interfaces in heterostructures of alingan/gan/al2o3
期刊论文
iSwitch采集
Superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 429-435
作者:
Zhou, SQ
;
Wu, MF
;
Yao, SD
;
Liu, JP
;
Yang, H
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2019/05/12
Nitride semiconductors
Interface
Rutherford backscattering/channeling
Transmission electron microscopy
X-ray diffraction
Lattice distortion of GaAsBi alloy grown on GaAs by molecular beam epitaxy
期刊论文
OAI收割
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS, 2006, 卷号: 45, 期号: 1A, 页码: 67-69
作者:
Takehara, Y
;
Yoshimoto, M
;
Huang, W
;
Saraie, J
;
Oe, K
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2019/04/09
Gaasbi
Semimetal-semiconductor Alloy
X-ray Diffraction
Lattice Distortion
Molecular Beam Epitaxy
Rutherford Backscattering
Interfaces in heterostructures of AlInGaN/GaN/Al2O3
期刊论文
OAI收割
superlattices and microstructures, 2006, 卷号: 39, 期号: 5, 页码: 429-435
Zhou SQ
;
Wu MF
;
Yao SD
;
Liu JP
;
Yang H
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提交时间:2010/04/11
nitride semiconductors
interface
Rutherford backscattering/channeling
transmission electron microscopy
x-ray diffraction
SUPER-LATTICES
STRAIN
GAN
Chemical composition and elastic strain in AlInGaN quaternary films
期刊论文
OAI收割
thin solid films, 2006, 卷号: 515, 期号: 4, 页码: 1429-1432
Zhou, SQ (Zhou, Shengqiang)
;
Wu, MF (Wu, M. F.)
;
Yao, SD (Yao, S. D.)
;
Liu, JP (Liu, J. P.)
;
Yang, H (Yang, H.)
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提交时间:2010/03/29
Rutherford backscattering spectroscopy