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机构
半导体研究所 [17]
采集方式
OAI收割 [9]
iSwitch采集 [8]
内容类型
期刊论文 [14]
会议论文 [3]
发表日期
2005 [3]
2004 [1]
2003 [2]
2002 [9]
1999 [2]
学科主题
光电子学 [9]
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浏览/检索结果:
共17条,第1-10条
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Frequency bandwidth estimation of to packaging techniques for laser modules
期刊论文
iSwitch采集
Optical and quantum electronics, 2005, 卷号: 37, 期号: 10, 页码: 903-913
作者:
Zhu, NH
;
Wang, YL
;
Qian, C
;
Pun, EYB
;
Chung, PS
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提交时间:2019/05/12
Laser module
Optical modulation
Packaging
Scattering parameter measurement
Semiconductor laser
An improved tm method for full two-port calibration of the asymmetric test fixtures
期刊论文
iSwitch采集
Microwave and optical technology letters, 2005, 卷号: 45, 期号: 5, 页码: 438-441
作者:
Zhu, NH
;
Liu, C
;
Pun, EYB
;
Chung, PS
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提交时间:2019/05/12
Calibration
Deembedding
Microwave network analyzer
Test fixtures
Scattering parameter measurement
A new method based on the construction of hypothetical symmetrical networks for fixture calibration in network analyzers
期刊论文
iSwitch采集
Acta physica sinica, 2005, 卷号: 54, 期号: 6, 页码: 2606-2610
作者:
Liu, C
;
Zhang, SJ
;
Xie, L
;
Zhu, NH
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提交时间:2019/05/12
Calibration
Test fixture
Network analyzer
Scattering parameter measurement
Calibration of microwave network analyzer
期刊论文
iSwitch采集
Science in china series e-technological sciences, 2004, 卷号: 47, 期号: 2, 页码: 141-149
作者:
Zhu, NH
;
Wang, YL
;
Chen, ZY
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提交时间:2019/05/12
Calibration
Microwave network analyzer
Scattering parameter measurement
Test fixture
Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures
期刊论文
iSwitch采集
Ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006
作者:
Zhu, NH
;
Qian, C
;
Wang, YL
;
Pun, EYB
;
Chung, PS
收藏
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提交时间:2019/05/12
Calibration
Deembedding
Microwave network analyzer
Scattering parameter measurement
Test fixture
Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures
期刊论文
OAI收割
ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006
Zhu NH
;
Qian C
;
Wang YL
;
Pun EYB
;
Chung PS
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提交时间:2010/08/12
calibration
deembedding
microwave network analyzer
scattering parameter measurement
test fixture
NETWORK-ANALYZER CALIBRATION
Two-port calibration of test fixtures with different test ports
期刊论文
iSwitch采集
Microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 299-302
作者:
Zhen, YC
;
You, LW
;
Yu, L
;
Ning, HZ
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提交时间:2019/05/12
Two-port calibration
Microwave network analyzer
Scattering-parameter measurement
Phase uncertainty
Scattering-parameter measurements of laser diodes
期刊论文
iSwitch采集
Optical and quantum electronics, 2002, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 747-757
作者:
Zhu, NH
;
Liu, Y
;
Pun, EYB
;
Chung, PS
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提交时间:2019/05/12
Microwave network analyzer
Scattering-parameter measurement
Semiconductor laser diode
Test fixture calibration
New algorithms of the tsm and tom methods for calibrating microwave test fixtures
期刊论文
iSwitch采集
Microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 34, 期号: 1, 页码: 26-31
作者:
Zhu, NH
;
Chen, ZY
;
Wang, YL
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2019/05/12
Microwave network analyzer
Test fixtures
Calibration
Scattering-parameter measurement
Scattering-parameter measurements of laser diodes
期刊论文
OAI收割
optical and quantum electronics, 2002, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 747-757
Zhu NH
;
Liu Y
;
Pun EYB
;
Chung PS
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浏览/下载:58/0
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提交时间:2010/08/12
microwave network analyzer
scattering-parameter measurement
semiconductor laser diode
test fixture calibration
TEST FIXTURES
CALIBRATION