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新疆理化技术研究所 [6]
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OAI收割 [8]
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Synergistic effect of enhanced low-dose-rate sensitivity and single event transient in bipolar voltage comparator LM139
期刊论文
OAI收割
JOURNAL OF NUCLEAR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2019, 卷号: 56, 期号: 2, 页码: 172-178
作者:
Yao, S (Yao, Shuai)[ 1,2,3 ]
;
Lu, W (Lu, Wu)[ 1,2,4 ]
;
Yu, X (Yu, Xin)[ 1,2 ]
;
Wang, X (Wang, Xin)[ 1,2 ]
;
Li, XL (Li, Xiaolong)[ 1,2,3 ]
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提交时间:2019/02/25
Enhanced low dose rate sensitivity
single event transient
bipolar voltage comparator
synergistic effect
双极电压比较器电离辐射损伤及剂量率效应分析
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2014, 卷号: 63, 期号: 2, 页码: 229-235
作者:
马武英
;
陆妩
;
郭旗
;
何承发
;
吴雪
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提交时间:2014/11/11
双极电压比较器
60 Coγ辐照
剂量率效应
辐射损伤
bipolar voltage comparator
60Coγ irradiation
dose rate effect
ionization damage
Theorical model of enhanced low dose rate sensitivity observed in p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor
期刊论文
OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 6
作者:
Gao Bo
;
Yu Xue-Feng
;
Ren Di-Yuan
;
Cui Jiang-Wei
;
Lan Bo
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提交时间:2012/11/29
p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor
Co-60 gamma-ray
total-dose irradiation damage effects
enhanced low dose rate sensitivity
p型金属氧化物半导体场效应晶体管低剂量率辐射损伤增强效应模型研究
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2011, 卷号: 60, 期号: 6, 页码: 812-818
作者:
高博
;
余学峰
;
任迪远
;
崔江维
;
兰博
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提交时间:2012/11/29
p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor
60Co gamma-ray
total-dose irradiation damage effects
enhanced low dose rate sensitivity
Degradation and dose rate effects of bipolar linear regulator on ionizing radiation
期刊论文
OAI收割
ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 9, 页码: -
作者:
Wang Yi-Yuan
;
Lu Wu
;
Ren Di-Yuan
;
Guo Qi
;
Yu Xue-Feng
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提交时间:2012/11/29
bipolar linear regulators
total ionizing dose
dose rate effect
radiation damage
ELDRS and dose-rate dependence of vertical NPN transistor
期刊论文
OAI收割
CHINESE PHYSICS C, 2009, 卷号: 33, 期号: 1, 页码: 47-49
作者:
Zheng Yu-Zhan
;
Lu Wu
;
Ren Di-Yuan
;
Wang Gai-Li
;
Yu Xue-Feng
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提交时间:2012/11/29
bipolar junction transistor
ELDRS effect
dose-rate dependence
Monte Carlo simulation of the BEPC II/BESIII backgrounds - Touschek effect
期刊论文
OAI收割
HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS-CHINESE EDITION, 2006, 卷号: 30, 期号: 5, 页码: 449-453
作者:
Jin DP(金大鹏)
;
Guo YN(过雅南)
;
Wang YF(王艳凤)
;
Wu LH(伍灵慧)
;
Liu ZA(刘振安)
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提交时间:2016/06/28
Touschek effect
single wire counting rate
radiation dose
background
The clonogenic surviving effect of human salivary gland cells exposed to high-linear energy transfer carbon ion beams at low dose rate
期刊论文
OAI收割
PROGRESS IN BIOCHEMISTRY AND BIOPHYSICS, 2005, 卷号: 32, 期号: 9, 页码: 895-899
作者:
Urakabe, E
;
Li, Q
;
Furusawa, Y
;
Kanazawa, M
;
Aoki, M
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提交时间:2010/10/29
carbon ion beam
dose rate
high linear energy transfer(LET)
dose surviving effect
damage repair