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半导体研究所 [20]
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OAI收割 [17]
iSwitch采集 [3]
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期刊论文 [19]
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发表日期
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2009 [1]
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专题:半导体研究所
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Investigation of cracks in GaN films grown by combined hydride and metal organic vapor-phase epitaxial method
期刊论文
OAI收割
nanoscale research letters, 2011, 卷号: 6, 页码: article no.69
作者:
Song HP
;
Wei HY
;
Li CM
;
Jiao CM
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提交时间:2011/07/05
CATHODOLUMINESCENCE CHARACTERIZATION
GALLIUM NITRIDE
STRESSES
LAYERS
HETEROSTRUCTURE
DEPOSITION
CONSTANTS
MECHANISM
SAPPHIRE
STRAIN
Growth of GaN film on Si (111) substrate using AlN sandwich structure as buffer
期刊论文
OAI收割
journal of crystal growth, 2011, 卷号: 318, 期号: 1, 页码: 464-467
作者:
Pan X
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浏览/下载:81/5
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提交时间:2011/07/05
Sandwich structure
Stress
Aluminum nitride
Gallium nitride
Silicon
PHONON DEFORMATION POTENTIALS
WURTZITE ALN
SILICON
STRESS
TRANSISTORS
EPITAXY
LAYERS
Comparison and combination of several stress relief methods for cubic boron nitride films deposited by ion beam assisted deposition
期刊论文
OAI收割
surface & coatings technology, 2009, 卷号: 203, 期号: 10-11, 页码: 1452-1456
作者:
Tan HR
;
Zhang XW
;
You JB
;
Fan YM
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提交时间:2010/03/08
Cubic boron nitride
Stress relaxation
Ion beam assisted deposition
Fourier transformed infrared spectroscopy
Growth and fabrication of algan/gan hemt based on si(111) substrates by mocvd
期刊论文
iSwitch采集
Microelectronics journal, 2008, 卷号: 39, 期号: 9, 页码: 1108-1111
作者:
Luo, Weijun
;
Wang, Xiaoliang
;
Xiao, Hongling
;
Wang, Cuimie
;
Ran, Junxue
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提交时间:2019/05/12
Algan/gan
High electron mobility transistor (hemt)
Si (111)
The effect of low temperature aln interlayers on the growth of gan epilayer on si (111) by mocvd
期刊论文
iSwitch采集
Superlattices and microstructures, 2008, 卷号: 44, 期号: 2, 页码: 153-159
作者:
Luo, Weijun
;
Wang, Xiaoliang
;
Guo, Lunchun
;
Xiao, Hongling
;
Wang, Cuimei
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提交时间:2019/05/12
Gallium nitride crack
Low temperature aluminum nitride
Interlayer
Silicon
Growth and fabrication of AlGaN/GaN HEMT based on Si(111) substrates by MOCVD
期刊论文
OAI收割
microelectronics journal, 2008, 卷号: 39, 期号: 9, 页码: 1108-1111
Luo, WJ
;
Wang, XL
;
Xiao, HL
;
Wang, CM
;
Ran, JX
;
Guo, LC
;
Li, JP
;
Liu, HX
;
Chen, YL
;
Yang, FH
;
Li, JM
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提交时间:2010/03/08
AlGaN/GaN
high electron mobility transistor (HEMT)
Si (111)
The effect of low temperature AlN interlayers on the growth of GaN epilayer on Si (111) by MOCVD
期刊论文
OAI收割
superlattices and microstructures, 2008, 卷号: 44, 期号: 2, 页码: 153-159
Luo, WJ
;
Wang, XL
;
Guo, LC
;
Xiao, HL
;
Wang, CM
;
Ran, JX
;
Li, JP
;
Li, JM
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提交时间:2010/03/08
gallium nitride crack
low temperature aluminum nitride
interlayer
silicon
Influence of the aln interlayer crystal quality on the strain evolution of gan layer grown on si (111)
期刊论文
iSwitch采集
Applied physics letters, 2007, 卷号: 90, 期号: 1, 页码: 3
作者:
Liu, W.
;
Zhu, J. J.
;
Jiang, S.
;
Yang, H.
;
Wang, J. F.
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提交时间:2019/05/12
Influence of the AlN interlayer crystal quality on the strain evolution of GaN layer grown on Si (111)
期刊论文
OAI收割
applied physics letters, 2007, 卷号: 90, 期号: 1, 页码: art.no.011914
Liu W
;
Zhu JJ
;
Jiang S
;
Yang H
;
Wang JF
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提交时间:2010/03/29
CHEMICAL-VAPOR-DEPOSITION
Influence of cracks generation on the structural and optical properties of GaN/Al0.55Ga0.45N multiple quantum wells
期刊论文
OAI收割
applied surface science, 2006, 卷号: 252, 期号: 8, 页码: 3043-3050
作者:
Zhang SM
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提交时间:2010/04/11
nitrides
multiple quantum wells
cracks
dislocations
vacancies x-ray diffraction
X-RAY-DIFFRACTION
EDGE DISLOCATIONS
GAN
FILMS
SUPERLATTICES
RELAXATION
STRAIN