机构

• 半导体研究所 [3]

采集方式

• OAI收割 [3]

内容类型

• 会议论文 [3]

发表日期

• 2006 [1]
• 2005 [1]
• 2002 [1]

学科主题

• 半导体材料 [2]
• 半导体物理 [1]

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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文    专题：半导体研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Electron irradiation-induced defects in InP pre-annealed at high temperature 会议论文  OAI收割 11th conference on defects recognition imaging and physics in semiconductors, beijing, peoples r china, sep 13-19, 2005 Zhao, YW (Zhao, Y. W.); Dong, ZY (Dong, Z. Y.); Deng, AH (Deng, A. H.) 收藏  |  浏览/下载：158/28  |  提交时间：2010/03/29 indium phosphide   Improvement of the electrical property of semi-insulating InP by suppression of compensation defects 会议论文  OAI收割 17th international conference on indium phosphide and related materials, glasgow, scotland, may 08-12, 2005 Zhao, YW; Dong, ZY 收藏  |  浏览/下载：220/68  |  提交时间：2010/03/29 ENCAPSULATED CZOCHRALSKI INP  SEMICONDUCTOR COMPOUND-CRYSTALS  STIMULATED CURRENT SPECTROSCOPY  CURRENT TRANSIENT SPECTROSCOPY  DEEP-LEVEL DEFECTS  ANNEALING AMBIENT  POINT-DEFECTS  FE  PHOSPHIDE  DONORS   Characterization of defects and whole wafer uniformity of annealed undoped semi-insulating InP wafers 会议论文  OAI收割 9th international conference on defects: recognition, imaging and physics in semiconductors (drip ix), rimini, italy, sep 24-28, 2001 Zhao YW; Sun NF; Dong HW; Jiao JH; Zhao JQ; Sun TN; Lin LY 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2010/11/15 indium phosphide  semi-insulating  annealing  PICTS  photoluminescence  SEMIINSULATING INP  INDIUM-PHOSPHIDE  FE  PHOTOLUMINESCENCE  TEMPERATURE