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制造半导体器件的方法 专利  OAI收割
专利号: CN101911258A, 申请日期: 2010-12-08, 公开日期: 2010-12-08
作者:  
中畑成二;  藤原伸介
  |  收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2020/01/18
生长氮化镓晶体的方法 专利  OAI收割
专利号: CN101086963B, 申请日期: 2010-04-21, 公开日期: 2010-04-21
作者:  
冈久拓司;  元木健作;  上松康二;  中畑成二;  弘田龙
  |  收藏  |  浏览/下载:14/0  |  提交时间:2019/12/26
GaN外延衬底、半导体器件以及制造GaN外延衬底和半导体器件的方法 专利  OAI收割
专利号: CN101568671A, 申请日期: 2009-10-28, 公开日期: 2009-10-28
作者:  
中畑成二;  元木健作
  |  收藏  |  浏览/下载:61/0  |  提交时间:2020/01/18
GaN衬底、带外延层的衬底、半导体器件及GaN衬底制造方法 专利  OAI收割
专利号: CN101350333A, 申请日期: 2009-01-21, 公开日期: 2009-01-21
作者:  
长田英树;  笠井仁;  石桥惠二;  中畑成二;  京野孝史
  |  收藏  |  浏览/下载:21/0  |  提交时间:2020/01/18
GaN衬底、带外延层的衬底、半导体器件及GaN衬底制造方法 专利  OAI收割
专利号: CN101345221A, 申请日期: 2009-01-14, 公开日期: 2009-01-14
作者:  
笠井仁;  石桥惠二;  中畑成二;  秋田胜史;  京野孝史
  |  收藏  |  浏览/下载:22/0  |  提交时间:2020/01/18
单晶氮化镓基板、单晶氮化镓长晶方法及单晶氮化镓基板制造方法 专利  OAI收割
专利号: CN100435268C, 申请日期: 2008-11-19, 公开日期: 2008-11-19
作者:  
元木健作;  弘田龙;  冈久拓司;  中畑成二
  |  收藏  |  浏览/下载:8/0  |  提交时间:2019/12/26
氮化物半导体基板及其制造方法 专利  OAI收割
专利号: CN1877877A, 申请日期: 2006-12-13, 公开日期: 2006-12-13
作者:  
上松康二;  佐藤史隆;  弘田龙;  中畑成二;  中幡英章
  |  收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2020/01/18
单晶氮化镓基板及其生长方法与制造方法 专利  OAI收割
专利号: CN1275335C, 申请日期: 2006-09-13, 公开日期: 2006-09-13
作者:  
元木健作;  冈久拓司;  中畑成二;  弘田龙;  上松康二
  |  收藏  |  浏览/下载:9/0  |  提交时间:2019/12/26
单晶氮化镓基板及其生长方法与制造方法 专利  OAI收割
专利号: CN1790759A, 申请日期: 2006-06-21, 公开日期: 2006-06-21
作者:  
元木健作;  冈久拓司
  |  收藏  |  浏览/下载:74/0  |  提交时间:2020/01/18