中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
首页
机构
成果
学者
登录
注册
登陆
×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
校外用户登录
CAS IR Grid
机构
西安光学精密机械研究... [9]
采集方式
OAI收割 [9]
内容类型
专利 [9]
发表日期
2010 [2]
2009 [3]
2008 [1]
2006 [3]
学科主题
筛选
浏览/检索结果:
共9条,第1-9条
帮助
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
题名升序
题名降序
提交时间升序
提交时间降序
作者升序
作者降序
发表日期升序
发表日期降序
制造半导体器件的方法
专利
OAI收割
专利号: CN101911258A, 申请日期: 2010-12-08, 公开日期: 2010-12-08
作者:
中畑成二
;
藤原伸介
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2020/01/18
生长氮化镓晶体的方法
专利
OAI收割
专利号: CN101086963B, 申请日期: 2010-04-21, 公开日期: 2010-04-21
作者:
冈久拓司
;
元木健作
;
上松康二
;
中畑成二
;
弘田龙
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2019/12/26
GaN外延衬底、半导体器件以及制造GaN外延衬底和半导体器件的方法
专利
OAI收割
专利号: CN101568671A, 申请日期: 2009-10-28, 公开日期: 2009-10-28
作者:
中畑成二
;
元木健作
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:61/0
  |  
提交时间:2020/01/18
GaN衬底、带外延层的衬底、半导体器件及GaN衬底制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN101350333A, 申请日期: 2009-01-21, 公开日期: 2009-01-21
作者:
长田英树
;
笠井仁
;
石桥惠二
;
中畑成二
;
京野孝史
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:21/0
  |  
提交时间:2020/01/18
GaN衬底、带外延层的衬底、半导体器件及GaN衬底制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN101345221A, 申请日期: 2009-01-14, 公开日期: 2009-01-14
作者:
笠井仁
;
石桥惠二
;
中畑成二
;
秋田胜史
;
京野孝史
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2020/01/18
单晶氮化镓基板、单晶氮化镓长晶方法及单晶氮化镓基板制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN100435268C, 申请日期: 2008-11-19, 公开日期: 2008-11-19
作者:
元木健作
;
弘田龙
;
冈久拓司
;
中畑成二
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2019/12/26
氮化物半导体基板及其制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN1877877A, 申请日期: 2006-12-13, 公开日期: 2006-12-13
作者:
上松康二
;
佐藤史隆
;
弘田龙
;
中畑成二
;
中幡英章
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:7/0
  |  
提交时间:2020/01/18
单晶氮化镓基板及其生长方法与制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN1275335C, 申请日期: 2006-09-13, 公开日期: 2006-09-13
作者:
元木健作
;
冈久拓司
;
中畑成二
;
弘田龙
;
上松康二
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2019/12/26
单晶氮化镓基板及其生长方法与制造方法
专利
OAI收割
专利号: CN1790759A, 申请日期: 2006-06-21, 公开日期: 2006-06-21
作者:
元木健作
;
冈久拓司
  |  
收藏
  |  
浏览/下载:74/0
  |  
提交时间:2020/01/18