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机构
西安光学精密机械研究... [7]
采集方式
OAI收割 [7]
内容类型
专利 [7]
发表日期
2018 [1]
2010 [2]
2005 [1]
1998 [1]
1996 [1]
1993 [1]
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判定装置及び判定方法
专利
OAI收割
专利号: JP2018031622A, 申请日期: 2018-03-01, 公开日期: 2018-03-01
作者:
日向 進
;
深堀 秀則
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提交时间:2019/12/31
半導体レーザパッケージの冷却システム
专利
OAI收割
专利号: JP2010135704A, 申请日期: 2010-06-17, 公开日期: 2010-06-17
作者:
熊本 健二
;
山崎 浩次
;
日向 進
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提交时间:2019/12/30
半導体レーザ装置
专利
OAI收割
专利号: JP2010114269A, 申请日期: 2010-05-20, 公开日期: 2010-05-20
作者:
日向 進
;
山崎 浩次
;
深堀 秀則
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2020/01/13
半導体レーザの製造方法
专利
OAI收割
专利号: JP3645664B2, 申请日期: 2005-02-10, 公开日期: 2005-05-11
作者:
日向 進
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提交时间:2020/01/18
集積型半導体レーザ装置
专利
OAI收割
专利号: JP2740762B2, 申请日期: 1998-01-23, 公开日期: 1998-04-15
作者:
日向 進
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提交时间:2019/12/26
半導体レーザ
专利
OAI收割
专利号: JP1996004187B2, 申请日期: 1996-01-17, 公开日期: 1996-01-17
作者:
日向 進
;
生和 義人
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提交时间:2020/01/13
半導体光デバイス
专利
OAI收割
专利号: JP1993226782A, 申请日期: 1993-09-03, 公开日期: 1993-09-03
作者:
日向 進
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提交时间:2019/12/31