机构

• 计算技术研究所 [8]
• 沈阳自动化研究所 [2]
• 微电子研究所 [1]

采集方式

• OAI收割 [11]

内容类型

• 期刊论文 [10]
• 学位论文 [1]

发表日期

• 2010 [2]
• 2007 [3]
• 2005 [2]
• 2004 [1]
• 2002 [3]

学科主题

• 计算机系统结构 [2]

筛选

浏览/检索结果: 共11条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 集成电路中的时延可测性设计技术 期刊论文  OAI收割 信息技术快报, 2010, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 17 作者:  裴颂伟;  李华伟   |  收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2010/03/30 时延测试  可测性设计  小时延缺陷  故障覆盖率  时延测量   利用新型的电源屏蔽实现方法降低测试功耗 期刊论文  OAI收割 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1421 作者:  徐君   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 测试功耗  电源屏蔽  可测性设计  VLSI   集成电路扫描链诊断技术 期刊论文  OAI收割 信息技术快报, 2007, 卷号: 5, 期号: 6, 页码: 1 作者:  李华伟;  胡瑜;  王飞;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：34/0  |  提交时间：2010/01/13 扫描链诊断  故障诊断  可测性设计  可诊断设计   面向通信系统集成电路测试问题研究 学位论文  OAI收割 博士, 沈阳自动化研究所: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2007 汪滢 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2010/11/29 可测性设计  三态内容可寻址存储器  测试存取机制  协同优化   基于BIST测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA 期刊论文  OAI收割 仪器仪表学报, 2007, 卷号: 28, 期号: S, 页码: 837-840 作者:  杨志家;  王宏;  刘肄倬   |  收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2010/11/29 Virtex-ⅱ  Fpga  Bist测试  互连技术  可测性设计  内建自测试   高频锁相环的可测性设计 期刊论文  OAI收割 微电子学与计算机, 2005, 卷号: 22, 期号: 8, 页码: 4，51-54 作者:  陈晓东;  周红   |  收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2010/05/26 可测性设计  边界扫描  高频  锁相环   应用于逻辑核的BIST关键技术研究 期刊论文  OAI收割 计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55 作者:  李吉;  徐勇军;  韩银和;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 可测性设计  逻辑内建自测试  测试点插入   基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计 期刊论文  OAI收割 计算机工程, 2004, 卷号: 30.0, 期号: 019, 页码: 30 作者:  鲁巍;  杨修涛;  李晓维   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 边界扫描  可测性设计  IEEEI  149．1  标准（JTAG）   龙芯1号通用CPU芯片的研制 期刊论文  OAI收割 中国科学院院刊, 2002, 卷号: 17.0, 期号: 006, 页码: 437 作者:  唐志敏   |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2023/12/04 龙芯1号  CPU芯片  设计技术  可测性  仿真   SoC设计中嵌入存储器对ATPG的影响 期刊论文  OAI收割 计算机研究与发展, 2002, 卷号: 39.0, 期号: 006, 页码: 763 作者:  陈志冲;  周锦锋;  倪光南   |  收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2023/12/04 SoC设计  嵌入存储器  ATPG  系统级芯片  可测性设计