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长春光学精密机械与物... [1]
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OAI收割 [20]
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计算机系统结构 [1]
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离散萤火虫算法的复杂装备测试点优化选择
期刊论文
OAI收割
光学精密工程, 2017, 页码: 1357-1367
作者:
王鹤淇
;
王伟国
;
郭立红
;
刘廷霞
;
姜润强
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提交时间:2018/04/09
可测试性设计
测试点优化选择
萤火虫算法
元启发式搜索
“存储+逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 146
作者:
叶靖
;
郭瑞峰
;
胡瑜
;
郑武东
;
黄宇
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提交时间:2023/12/04
3D集成电路
硅通孔
可测试性设计
JEDEC协议JESD229
IEEE
1149
1协议
集成电路中的时延可测性设计技术
期刊论文
OAI收割
信息技术快报, 2010, 卷号: 8, 期号: 2, 页码: 17
作者:
裴颂伟
;
李华伟
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提交时间:2010/03/30
时延测试
可测性设计
小时延缺陷
故障覆盖率
时延测量
利用新型的电源屏蔽实现方法降低测试功耗
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1421
作者:
徐君
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提交时间:2023/12/04
测试功耗
电源屏蔽
可测性设计
VLSI
面向通信系统集成电路测试问题研究
学位论文
OAI收割
博士, 沈阳自动化研究所: 中国科学院沈阳自动化研究所, 2007
汪滢
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提交时间:2010/11/29
可测性设计
三态内容可寻址存储器
测试存取机制
协同优化
基于BIST测试Xilinx Virtex-Ⅱ系列FPGA
期刊论文
OAI收割
仪器仪表学报, 2007, 卷号: 28, 期号: S, 页码: 837-840
作者:
杨志家
;
王宏
;
刘肄倬
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提交时间:2010/11/29
Virtex-ⅱ
Fpga
Bist测试
互连技术
可测性设计
内建自测试
SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法
期刊论文
OAI收割
计算机辅助设计与图形学学报, 2006, 卷号: 18, 期号: 9
作者:
王伟
;
李佳
;
胡瑜
;
李晓维
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提交时间:2010/11/22
可测试性设计
动态功耗
扫描链
并行最优化软件包及性能测试
期刊论文
OAI收割
数值计算与计算机应用, 2006, 卷号: 27, 期号: 1, 页码: 60-66
王建
;
冯仰德
;
迟学斌
;
程强
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提交时间:2011/07/13
非线性共轭梯度法
TAO
无约束最优化
加速比
并行
最优化
软件包
性能测试
共轭梯度算法
非线性
优化工具箱
共轭梯度法
优化设计
可移植性
可扩展性
结果分析
程序设计
解法器
显示
一种分布式高性能集群邮件系统的设计与实现
期刊论文
OAI收割
计算机工程, 2006, 卷号: 32, 期号: 6, 页码: 253-256
郑勇
;
杨达
;
林溯奕
;
张学杰
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提交时间:2011/07/13
集群
负载均衡
LVS
LDAP
分布式
高性能
集群邮件系统
设计
邮件服务系统
性能优化
相关技术
可伸缩性
高可用性
服务集群
存储集群
测试结果
中转
验证
前端
扩展
功能
一种微处理器芯片的验证测试分析及应用
期刊论文
OAI收割
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:
檀彦卓
;
韩银和
;
李晓维
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提交时间:2023/12/04
验证测试
生产测试
失效分析
可测试性设计
故障模型