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微电子研究所 [11]
新疆理化技术研究所 [4]
上海微系统与信息技术... [1]
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OAI收割 [16]
内容类型
期刊论文 [14]
学位论文 [2]
发表日期
2019 [1]
2018 [1]
2015 [1]
2012 [2]
2009 [1]
2008 [4]
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130nm部分耗尽绝缘体上硅工艺晶体管总剂量效应及模型研究
学位论文
OAI收割
中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院大学, 2019
作者:
席善学
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2019/07/15
总剂量效应
部分耗尽
浅槽隔离
模型
质子辐照对130nm部分耗尽SOI MOS器件栅氧经时击穿可靠性的影响
期刊论文
OAI收割
现代应用物理, 2018, 卷号: 8, 期号: 4
作者:
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浏览/下载:50/0
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提交时间:2018/07/20
辐射诱导泄漏电流
栅氧经时击穿
可靠性
质子辐照
部分耗尽soi
电离辐射对部分耗尽绝缘体上硅器件低频噪声特性的影响
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2015, 卷号: 64, 期号: 7, 页码: 393-398
作者:
刘远
;
陈海波
;
何玉娟
;
王信
;
岳龙
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浏览/下载:36/0
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提交时间:2015/06/26
绝缘体上硅
部分耗尽
电离辐射
低频噪声
0.13微米SOI工艺仿真及PD SOI器件特性研究
学位论文
OAI收割
博士: 中国科学院研究生院(上海微系统与信息技术研究所) , 2012
罗杰馨
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提交时间:2013/04/24
绝缘体上的硅
部分耗尽
浮体效应
记忆效应
隧道二极管
部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究
期刊论文
OAI收割
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: 323-329
作者:
李明
;
余学峰
;
薛耀国
;
卢健
;
崔江维
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浏览/下载:27/0
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提交时间:2012/11/29
部分耗尽绝缘层附着硅
静态随机存储器
总剂量效应
功耗电流
部分耗尽SOI NMOSFET总剂量辐照的最坏偏置
期刊论文
OAI收割
半导体技术, 2009, 卷号: 34, 期号: 1, 页码: 4,65-68
作者:
刘梦新
;
卜建辉
;
胡爱斌
;
韩郑生
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提交时间:2010/06/01
绝缘体上硅
总剂量效
最坏偏置
部分耗尽
辐照
PDSOI体源连接环形栅nMOS特性研究
期刊论文
OAI收割
固体电子学研究与进展, 2008, 期号: 1
作者:
毕津顺
;
海潮和
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提交时间:2010/05/27
部分耗尽绝缘体上硅
环形栅 浮体效应
体源连接
总剂量辐照加固的PDSOI 8位微控制器
期刊论文
OAI收割
功能材料与器件学报, 2008, 卷号: 14, 期号: 3, 页码: 5,619-623
作者:
郭天雷
;
赵发展
;
刘刚
;
海潮和
;
韩郑生
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浏览/下载:25/0
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提交时间:2010/05/27
部分耗尽soi
RF PDSOI LDMOS器件的电离总剂量辐照效应
期刊论文
OAI收割
半导体学报, 2008, 卷号: 29, 期号: 11, 页码: 6,2158-2163
作者:
刘梦新
;
韩郑生
;
毕津顺
;
范雪梅
;
刘刚
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提交时间:2010/05/27
部分耗尽
总剂量辐照加固的PDSOI CMOS 3线-8线译码器
期刊论文
OAI收割
半导体学报, 2008, 卷号: 29, 期号: 6, 页码: 4,1036-1039
作者:
刘梦新
;
韩郑生
;
李多力
;
刘刚
;
赵超荣
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提交时间:2010/05/27
部分耗尽soi
译码器
总剂量 辐照