机构

• 半导体研究所 [15]

采集方式

• OAI收割 [9]
• iSwitch采集 [6]

内容类型

• 期刊论文 [12]
• 会议论文 [3]

发表日期

• 2008 [1]
• 2005 [1]
• 2004 [1]
• 2003 [2]
• 2002 [8]
• 1999 [2]
• 更多

学科主题

• 光电子学 [9]

筛选

浏览/检索结果: 共15条，第1-10条 帮助 条数/页： 5101520253035404550556065707580859095100 排序方式： 请选择题名升序题名降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序发表日期升序发表日期降序 Measurement and analysis of microwave frequency response of semiconductor optical amplifiers - art. no. 682406 会议论文  OAI收割 conference on semiconductor lasers and applications iii, beijing, peoples r china, nov 12-13, 2007 Liu, J; Zhang, SJ; Hu, YH; Xie, L; Huang, YZ; Zhu, NH 收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2010/03/09 semiconductor optical amplifier  microwave frequency response  direct-subtracting method  vector network analyzer  multisectional model  rate equation  steady state  small-signal state   An improved tm method for full two-port calibration of the asymmetric test fixtures 期刊论文  iSwitch采集 Microwave and optical technology letters, 2005, 卷号: 45, 期号: 5, 页码: 438-441 作者:  Zhu, NH;  Liu, C;  Pun, EYB 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Deembedding  Microwave network analyzer  Test fixtures  Scattering parameter measurement   Calibration of microwave network analyzer 期刊论文  iSwitch采集 Science in china series e-technological sciences, 2004, 卷号: 47, 期号: 2, 页码: 141-149 作者:  Zhu, NH;  Wang, YL;  Chen, ZY 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Microwave network analyzer  Scattering parameter measurement  Test fixture   Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures 期刊论文  iSwitch采集 Ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006 作者:  Zhu, NH;  Qian, C;  Wang, YL;  Pun, EYB;  Chung, PS 收藏  |  浏览/下载：30/0  |  提交时间：2019/05/12 Calibration  Deembedding  Microwave network analyzer  Scattering parameter measurement  Test fixture   Frequency limitation in the calibration of microwave test fixtures 期刊论文  OAI收割 ieee transactions on microwave theory and techniques, 2003, 卷号: 51, 期号: 9, 页码: 2000-2006 Zhu NH; Qian C; Wang YL; Pun EYB; Chung PS 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2010/08/12 calibration  deembedding  microwave network analyzer  scattering parameter measurement  test fixture  NETWORK-ANALYZER CALIBRATION   Two-port calibration of test fixtures with different test ports 期刊论文  iSwitch采集 Microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 299-302 作者:  Zhen, YC;  You, LW;  Yu, L;  Ning, HZ 收藏  |  浏览/下载：19/0  |  提交时间：2019/05/12 Two-port calibration  Microwave network analyzer  Scattering-parameter measurement  Phase uncertainty   Scattering-parameter measurements of laser diodes 期刊论文  iSwitch采集 Optical and quantum electronics, 2002, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 747-757 作者:  Zhu, NH;  Liu, Y;  Pun, EYB;  Chung, PS 收藏  |  浏览/下载：31/0  |  提交时间：2019/05/12 Microwave network analyzer  Scattering-parameter measurement  Semiconductor laser diode  Test fixture calibration   New algorithms of the tsm and tom methods for calibrating microwave test fixtures 期刊论文  iSwitch采集 Microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 34, 期号: 1, 页码: 26-31 作者:  Zhu, NH;  Chen, ZY;  Wang, YL 收藏  |  浏览/下载：27/0  |  提交时间：2019/05/12 Microwave network analyzer  Test fixtures  Calibration  Scattering-parameter measurement   Scattering-parameter measurements of laser diodes 期刊论文  OAI收割 optical and quantum electronics, 2002, 卷号: 34, 期号: 8, 页码: 747-757 Zhu NH; Liu Y; Pun EYB; Chung PS 收藏  |  浏览/下载：58/0  |  提交时间：2010/08/12 microwave network analyzer  scattering-parameter measurement  semiconductor laser diode  test fixture calibration  TEST FIXTURES  CALIBRATION   Two-port calibration of test fixtures with different test ports 期刊论文  OAI收割 microwave and optical technology letters, 2002, 卷号: 35, 期号: 4, 页码: 299-302 Zhen YC; You LW; Yu L; Ning HZ 收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2010/08/12 two-port calibration  microwave network analyzer  scattering-parameter measurement  phase uncertainty  NETWORK-ANALYZER CALIBRATION  LINE