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机构
西安光学精密机械研... [12]
采集方式
OAI收割 [12]
内容类型
专利 [12]
发表日期
2000 [1]
1999 [3]
1996 [1]
1995 [3]
1994 [2]
1993 [2]
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半導体レーザ
专利
OAI收割
专利号: JP3024354B2, 申请日期: 2000-01-21, 公开日期: 2000-03-21
作者:
山田 博仁
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提交时间:2020/01/18
分布帰還型半導体レーザ
专利
OAI收割
专利号: JP2937740B2, 申请日期: 1999-06-11, 公开日期: 1999-08-23
作者:
山田 博仁
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提交时间:2020/01/13
変調歪測定装置
专利
OAI收割
专利号: JP2907140B2, 申请日期: 1999-04-02, 公开日期: 1999-06-21
作者:
山田 博仁
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提交时间:2019/12/23
光モジュール及び光軸調整方法
专利
OAI收割
专利号: JP1999068243A, 申请日期: 1999-03-09, 公开日期: 1999-03-09
作者:
山田 博仁
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提交时间:2020/01/18
多重量子井戸構造半導体レーザ
专利
OAI收割
专利号: JP1996125263A, 申请日期: 1996-05-17, 公开日期: 1996-05-17
作者:
山田 博仁
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提交时间:2019/12/31
分布帰還型半導体レーザ
专利
OAI收割
专利号: JP1995118568B2, 申请日期: 1995-12-18, 公开日期: 1995-12-18
作者:
奥田 哲朗
;
山田 博仁
;
鳥飼 俊敬
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提交时间:2020/01/13
分布帰還型半導体レーザおよびその製造方法
专利
OAI收割
专利号: JP1995070789B2, 申请日期: 1995-07-31, 公开日期: 1995-07-31
作者:
山田 博仁
;
奥田 哲朗
;
鳥飼 俊敬
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提交时间:2019/12/23
半導体レーザ
专利
OAI收割
专利号: JP1995066501A, 申请日期: 1995-03-10, 公开日期: 1995-03-10
作者:
山田 博仁
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提交时间:2020/01/18
半導体レーザおよびその製造方法
专利
OAI收割
专利号: JP1994310806A, 申请日期: 1994-11-04, 公开日期: 1994-11-04
作者:
奥田 哲朗
;
山田 博仁
;
鳥飼 俊敬
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提交时间:2020/01/13
半導体レーザ
专利
OAI收割
专利号: JP1994268314A, 申请日期: 1994-09-22, 公开日期: 1994-09-22
作者:
山田 博仁
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提交时间:2020/01/13