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机构
上海微系统与信息技术... [3]
合肥物质科学研究院 [3]
上海应用物理研究所 [1]
采集方式
OAI收割 [7]
内容类型
期刊论文 [7]
发表日期
2016 [1]
2012 [3]
1989 [3]
学科主题
Science & ... [2]
纳米科技与材料物理:... [2]
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浏览/检索结果:
共7条,第1-7条
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Study of SiGe selective epitaxial process integration with high-k and metal gate for 16/14 nm nodes FinFET technology
期刊论文
OAI收割
MICROELECTRONIC ENGINEERING, 2016, 卷号: 163, 页码: 49-54
作者:
Wang, GL
;
Qin, CL
;
Yin, HX
;
Luo, J
;
Duan, NY
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浏览/下载:47/0
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提交时间:2017/03/02
FinFET
SiGe selective epitaxy
RPCVD
High-k & metal gate
SiGe薄膜的RPCVD负载影响及特性研究
期刊论文
OAI收割
材料导报, 2012, 期号: 14, 页码: 22-24+32
陈达
;
刘林杰
;
薛忠营
;
刘肃
;
贾晓云
收藏
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2013/02/22
薄膜
减压化学气相沉积
硅锗
负载影响
Fabrication of high quality strained SiGe on Si substrate by RPCVD
期刊论文
OAI收割
CHINESE SCIENCE BULLETIN, 2012, 卷号: 57, 期号: 15, 页码: 1862-1867
Xue, ZY
;
Chen, D
;
Liu, LJ
;
Jiang, HT
;
Bian, JT
;
Wei, X
;
Di, ZF
;
Zhang, M
;
Wang, X
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浏览/下载:61/0
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提交时间:2013/04/17
SiGe
epitaxial growth
growth rate
Ge content
Fabrication of high quality strained SiGe on Si substrate by RPCVD
期刊论文
OAI收割
CHINESE SCIENCE BULLETIN, 2012, 卷号: 57, 期号: 15, 页码: 1862-1867
Xue, ZY
;
Chen, D
;
Liu, LJ
;
Jiang, HT
;
Bian, JT
;
Wei, X
;
di, zf(重点实验室)
;
Zhang, M(重点实验室)
;
Wang, X(重点实验室)
收藏
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2013/05/10
Multidisciplinary Sciences
RPCVD SnO_2薄膜气敏元件初探
期刊论文
OAI收割
仪器仪表学报, 1989, 卷号: 10, 期号: 2
作者:
李民强
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浏览/下载:29/0
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提交时间:2009/10/19
RPCVD SnO_2薄膜气敏元件初探
期刊论文
OAI收割
仪器仪表学报, 1989, 卷号: 10, 期号: 2
作者:
张耀华
;
李宁
;
李民强
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2009/10/19